[实用新型]内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及SOC集成电路设计领域，尤其涉及一种内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置。

背景技术

目前各类开发板调试用的接口均为JTAG接口，而连接到PC机（Personal Computer，个人计算机）都使用了USB收发装置。因此必须使用USB转JTAG调试器来连接主机与开发板，以完成对开发板中主芯片CPU的连接和调试。

随着多核技术的发展，一个多核集成电路中存在各种类别的CPU（Central Processing Unit，中央处理器），由于不同的CPU使用的调试处理器都是不同厂家提供的，功能和型号均不相同，这样对各个不同CPU进行调试时需要采购各自调试处理器对应的USB转JTAG的调试器，并且PC机需要多个USB收发装置接入对应的USB转JTAG的调试器，芯片也需要提供多个JTAG接口来实现通过调试处理器对不同CPU的调试。

传统的技术来源于单核集成电路的结构，图1是现有技术中芯片调试过程的结构示意图，如图1所示，当需要控制芯片20中的调试处理器28进行调试处理时，需要有调试处理器28相应的生产厂商提供相应的USB转JTAG调试器30外界外围PC机10完成调试工作，则不仅需要多个USB转JTAG调试器，而且需要为其调试工作预留多个USB收发装置和JTAG接口。因此，对多核集成电路已经难以为用户接受，特别难以被开发板用户接受。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置。

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置，包括：USB收发装置、控制处理器、JTAG接口汇总模块以及若干调试处理器，

所述USB收发装置接收所述外围PC机输出的调用指令；

所述控制处理器接收所述调用指令，并将所述调用指令传输给所述JTAG接口汇总模块进行配置；

所述JTAG接口汇总模块接收所述控制处理器传输的调用指令，并转换输出不同的JTAG时序指令至相应的调试处理器；

所述调试处理器接收相应所述JTAG时序指令进行调试，并将调试结果以此经过所述JTAG接口汇总模块、控制处理器及USB收发装置反馈输出至所述外围PC机。

进一步的，所述控制处理器包括若干I/O端口，所述控制处理器通过所述I/O端口接收所述USB收发装置传输的调用指令，并通过所述I/O端口输出JTAG接口的控制命令。

进一步的，所述控制处理器包括控制处理模块，所述控制处理模块接收、发送USB收发装置可识别的数据传输包，所述控制处理模块解析所述外围PC机发送过来的带有命令和参数信息的数据传输包，所述调试处理器将调试结果以数据传输包的形式反馈给外围PC机。

进一步的，所述控制处理器为所述芯片自带多核中央处理器中的一个协处理器。

进一步的，所述USB收发装置采用所述芯片自带的USB收发装置。

进一步的，所述JTAG接口汇总模块还包括JTAG引脚，所述JTAG引脚通过所述芯片引脚引出。

综上所述，本实用新型所述内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置通过在多核芯片内部设计一个电路模块，该电路模块一头连接芯片中一协处理器作为控制处理器，另外一头连接各个调试处理器的JTAG接口汇总模块。控制处理器同时连接USB收发装置，通过软件控制的方式将从USB收发装置过来的命令转化成JTAG信号对各个处理器进行调试。因此，节省了调试时外围PC端与开发板间的USB转JTAG调试器，同时可通过软件支持多核芯片中多个CPU的在线同步调试。减低了开发板成本，提高了调试灵活性。

同时，USB收发装置在芯片中例化为装置（Device）模式，每路JTAG控制信号使用USB收发装置中独立的端点号，这样在外围PC端可以看到多个调试处理器，从而实现一根USB连线实现对多核芯片中所有处理器的调试。

当USB收发装置中的端点数目小于需要调试的处理器个数，则可以通过软件配置的方式对需要调试的处理器进行选择，将需要调试的处理器JTAG控制能力绑定到USB相应的端点上。

此外，为了提高灵活性，所述JTAG接口汇总模块还包括JTAG引脚，所述JTAG引脚通过所述芯片引脚引出，通过将处理器的JTAG引脚同时引出到芯片引脚上，按照传统的方式外接USB转JTAG调试器进行调试。在芯片上提供可选择的拨码开关或者软件控制。

附图说明

图1是现有技术中芯片调试过程的结构示意图；

图2是本实用新型一实施例中的内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置。

具体实施方式