[实用新型]一种加工误差测量装置有效
申请号: | 201320109831.3 | 申请日: | 2013-03-11 |
公开(公告)号: | CN203132458U | 公开(公告)日: | 2013-08-14 |
发明(设计)人: | 李建国 | 申请(专利权)人: | 上海吉基电子有限公司 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00 |
代理公司: | 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 | 代理人: | 陈学雯 |
地址: | 201611 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 加工 误差 测量 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种测量工具,具体涉及一种加工误差测量装置。
背景技术
现行电子产品需求量巨大,对制造厂家的生产力水平要求也日益增加。由于电子产品的零部件加工相对于一般机械部件加工有很大区别,不仅加工精度要求更高,由于电子产品的零部件体积往往较小,其生产在要求快速的同时要保证高精度。
现在的生产厂家在零部件的误差检验环节中,在制造电子产品零部件时往往需要对很多细小的电子产品零部件进行加工误差测量,由于不同的零部件外形、大小不尽相同,生产厂家一般采用人工测量的方式进行误差测量;而且过程复杂,精度低,测量的准确度较低,无法直观、迅速的了解零部件的误差值,费时费力,影响整个生产的进度。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种加工误差测量装置,通过将零部件卡在一弹性机构上,并使用千分尺测量弹性测量机构的位移以检测出零部件的加工误差,克服了传统的人工测量检验效率、精度低的不足,从而实现本实用新型的目的。
本实用新型所解决的技术问题可以采用以下技术方案来实现:
一种加工误差测量装置,用于测量零部件的加工尺寸,该加工误差测量装置包括一千分尺以及一弹性测量机构,其中:
千分尺、弹性测量机构均设于一固定座上;
弹性测量机构包括一设于固定座上的固定卡接部以及弹性卡接部,其中:
弹性卡接部包括弹性装置、一卡接块以及一推杆,该卡接块与推杆相连并设于推杆一端,推杆另一端与千分尺的触头相连接,该推杆能够在外力作用下沿自身轴线位移并牵动该千分尺的触头;弹性装置用于将位移后的推杆复位;
零部件的一端与固定卡接部卡紧固定,另一端与卡接块固定,该零部件依其自身尺寸大小带动卡接块使推杆发生位移。
在本实用新型的一个优选实施例中,千分尺横向固定于固定座上,固定卡接部具体为一设于固定座上的凸块,推杆横向设置在该凸块内部,该推杆的一端从凸块侧面伸出并与千分尺的触头连接;卡接块固定在推杆上,并从凸块上端凸出。
在本实用新型的一个优选实施例中,弹性装置具体为一套设于推杆上的螺旋弹簧。
在本实用新型的一个优选实施例中,千分尺具体为一电子千分尺。
本实用新型的有益效果在于:
可快速、直观、精确地测量零部件的加工尺寸,省时省力,有效提高生产、检验效率;装置结构简单紧凑,便于加工生产和后期维护,具有很强的实用性。
附图说明
图1为本实用新型所述的一种加工误差测量装置在具体实施时的示意图。
图2为图1的侧视图。
具体实施方式
为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施方式,进一步阐述本实用新型。
如图1和图2所示,本实用新型所述的一种加工误差测量装置包括千分尺100、底座50以及弹性测量机构200,其中,千分尺100以及弹性测量机构200均固定于底座50上,弹性测量机构200用于感知零部件侧尺寸变化,千分尺100用于测量这种尺寸变化;在本实施例中,千分尺100采用电子千分尺,其设有表盘以及用于感应自身位移的触头101,当触头101不发生位移时,千分尺100读数为0,当触头被拉伸或者压缩时,千分尺100读数发生相应的变化。
千分尺100通过固定螺栓52固定于底座50的凸出部51上,该底座50在本实施例中为一矩形的金属块。
弹性测量机构200包括一固定于底座50上的方形固定块220,该固定块220为空心壳体,其内部横向设置有一推杆210,该推杆210两端从固定块220两侧伸出,其中,推杆210的一端与千分尺100的触头101连接,另一端从固定块220伸出;推杆210可在固定块220内沿其自身轴向来回移动,在推杆210上与固定块220内部之间套设有一螺旋弹簧,该螺旋弹簧用于将发生位移的推杆210复位。
卡接块211固定于推杆210上,并与该推杆210相互垂直设置,卡接块211顶端从固定块220上端开设的通孔221内伸出,其中,该通孔221的口径大于卡接块211的截面大小,即卡接块211可带动推杆210在通孔221的口径范围内沿推杆210的轴线方向自由移动。
在本实施例中,所需测量的零部件为手机的SIM卡卡托60,在实际测量时,将该SIM卡卡托60的端部61卡在固定块220上,SIM卡卡托60自带的矩形通口62与卡接块211相互卡接,便可测量到该SIM卡卡托60的端部61的内侧至矩形通口62边缘的距离公差d;
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