[实用新型]在侵蚀状态下材料电阻率的测量装置有效

专利信息
申请号: 201320103595.4 申请日: 2013-03-07
公开(公告)号: CN203164297U 公开(公告)日: 2013-08-28
发明(设计)人: 唐磊;郭艳玲;张捷宇;曾涛;王耀杰;吴广新;王磊;殷天;赵坚 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人: 何文欣
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 侵蚀 状态 材料 电阻率 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种在侵蚀状态下材料电阻率的测量装置,由四电极(1)、四电极固定架和导线(8)组成电阻率测量系统,所述四电极(1)在待测试样(3)表面上排布,使所述四电极(1)的测试端同时与待测试样(3)的表面电接触连接,所述四电极(1)被固定在所述四电极固定架上,四电极固定架为绝缘材料制成,所述四电极(1)分别通过四根所述导线(8)接入外接电源,所述四电极(1)中外侧两个电极通入电流,内侧两个电极测量电压,四根所述导线(8)彼此绝缘,其特征在于:侵蚀介质(7)被盛放在一个容器(6)内,或者将待测试样(3)制成容器来盛放侵蚀介质(7),使待测试样(3)的部分表面与侵蚀介质(7)直接接触,且待测试样(3)另有其他部分表面与所述四电极(1)的测试端电接触连接,保持所述电阻率测量系统与侵蚀介质(7)隔离,使与侵蚀介质(7)接触的待测试样(3)那部分表面经受侵蚀介质(7)侵蚀,从而使待测试样(3)处于被液态侵蚀状态下进行电阻率测量。

2.根据权利要求1所述的在侵蚀状态下材料电阻率的测量装置,其特征在于:将待测试样(3)至少一个表面浸入所述容器(6)内的侵蚀介质(7)中进行侵蚀,侵蚀介质(7)不侵蚀所述容器(6),所述容器(6)带有容器盖(4),在所述容器盖(4)和所述容器(6)上缘之间形成溢流口(5),待测试样(3)为条形块状或条形板状,所述容器盖(4)中心设有镂空的条形卡口,待测试样(3)安装在条形卡口内,所述溢流口(5)位置高于待测试样(3)下表面并低于待测试样(3)上表面,保持侵蚀介质(7)达到溢出边界状态,使侵蚀介质(7)完全充满所述容器(6)内腔,由于侵蚀介质(7)和所述四电极(1)的测试端分别接触到待测试样(3)的不同表面,使待测试样(3)下表面经受侵蚀介质(7)侵蚀,采用四电极固定板(2)作为所述四电极固定架,所述四电极固定板(2)覆盖于待测试样(3)上部,所述四电极(1)的测试端同时与待测试样(3)的上表面电连接接触。

3.根据权利要求2所述的在侵蚀状态下材料电阻率的测量装置,其特征在于:所述容器(6)及其容器盖(4)由石墨或陶瓷制得。

4.根据权利要求1所述的在侵蚀状态下材料电阻率的测量装置,其特征在于:待测试样(3)为条形块状或条形板状,侵蚀介质(7)不侵蚀所述容器(6),所述容器(6)底部设有卡槽状开口,待测试样(3)被安装在卡槽状开口内,待测试样(3)和卡槽状开口之间密封连接,形成所述容器(6)的底部一体封装构造,由于侵蚀介质(7)和所述四电极(1)的测试端分别接触到待测试样(3)的不同表面,使待测试样(3)上表面经受侵蚀介质(7)侵蚀,采用四电极固定板(2)作为所述四电极固定架,所述四电极固定板(2)设置于待测试样(3)下部,所述四电极(1)的测试端同时与待测试样(3)的下表面电连接接触。

5.根据权利要求4所述的在侵蚀状态下材料电阻率的测量装置,其特征在于:所述容器(6)由石墨或陶瓷制得,待测试样(3)和所述容器(6)底部的卡槽状开口之间间隙用高温水泥或溶胶密封。

6.根据权利要求1所述的在侵蚀状态下材料电阻率的测量装置,其特征在于:待测试样(3)为条形块状或条形板状,设置于所述导线(8)外部的保护结构防止侵蚀介质(7)侵蚀所述电阻率测量系统,且侵蚀介质(7)不侵蚀四电极固定架,所述四电极固定架一端与待测试样(3)固定连接,通过操作所述四电极固定架的另一端,使待测试样(3)全部浸入侵蚀介质(7)中,所述导线(8)的末端引出形成所述四电极(1),由于侵蚀介质(7)和所述导线(8)的末端分别接触到待测试样(3)的不同位置处的表面,使与侵蚀介质(7)直接接触的待测试样(3)的浸湿表面经受侵蚀介质(7)侵蚀。

7.根据权利要求6所述的在侵蚀状态下材料电阻率的测量装置,其特征在于:所述导线(8)外部的保护结构由中空套管(9)和保护套管(10)构成,所述四电极固定架整体由三段中空套管(9)形成倒“Y”形外部构造,所述导线(8)内置于所述四电极固定架的三段中空套管(9)中,其中两段分支的中空套管(9)开口端与保护套管(10)密封连接,四根所述导线(8)首先同时从其中一段长的中空套管(9)中穿过,然后以每两根所述导线(8)为一组从另外两段分支的中空套管(9)中分别穿过,使所述导线(8)的末端位于所述保护套管(10)中,所述保护套管(10)和待测试样(3)之间密封,保护所述导线(8)与侵蚀介质(7)相互隔离。

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