[实用新型]电子元件测试装置的偏心弹簧

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种弹簧，特别是关于一种应用于电子元件测试装置内的偏心弹簧。

背景技术

一般半导体晶片（电子元件）的内部具有一集成电路，且该集成电路向外延伸设有复数个引脚或电极，通常会针对该复数个引脚或该复数个电极进行各项的电气特性测试。通常，厂商会依据最接近实际操作使用时的状态，制作出相对应的一电子元件测试装置，以便完整模拟真实操作使用时的环境而进行测试。

请参阅图1、图2，是一般电子元件测试装置的结构示意图及其操作时的状态示意图。如图中所示，用来检测四方扁平封装半导体（Quad Flat Package,QFP）的电子元件测试装置1，其中该QFP由一基材的四个侧面分别延伸设有复数个引脚而呈现海鸥翼(L)型。该种电子元件测试装置1包括一座体11、一盖体12、一承载台13、复数个弹性元件14及复数个探针单元15，其中该该座体11及该盖体12对合设置，且于中央部位对应形成一容置空间111，以供容置该承载台13及该复数个弹性元件14，该承载台13平均靠抵于该复数个弹性元件14上而活动设于该容置空间111内，该每一探针单元15分别活动设置于该座体11及该盖体12之间，而每一探针单元15又包含一外管151、一弹簧152及一探针头153，该探针头153连同该弹簧152而活动套设于该外管151内，使该探针头153的一接触端1531穿出该外管151。检测时，将该QFP2平均置于该承载台13上，通过适当压力下压该QFP2连同该承载台13，进而检测该复数个引脚21是否能够与该每一探针头153的该接触端1531相抵靠接触，进一步达到检测其电气导通状态的目的。

然而，该电子元件测试装置1进行检测时的准确性，由于该探针头153通过该弹簧152与该外管151作电性导通，故该探针头153及该弹簧152的设计方式，例如：该探针头153导电性不佳，或是该弹簧152无法提供有效的支撑效果及更高频宽的测试，均有可能影响其准确性。一般而言，该弹簧152多选用呈单一圆径的直线弹簧，或选用呈多段不同圆径的同心直线弹簧，当该探针头153受压，并压缩该弹簧152而造成弯曲形变，使该弹簧152无法与该外管151的内壁面保持有效的抵靠接触，也即抵靠接触面积及抵靠接触位置无法固定而导致阻抗的改变；但是，其阻抗越低则越不容易影响检测效果，但无法保持有效的抵靠接触，是传统的该弹簧152最大的缺点，故有必要加以改良。

发明内容

有鉴于此，本实用新型的一目的，旨在提供一种电子元件测试装置的偏心弹簧，俾于该偏心弹簧设有一第一绕线部，以及延伸自该第一绕线部外周缘的一第二绕线部，该第二绕线部偏心设置于该第一绕线部的一端，该偏心弹簧受压后，该第二绕线部变形量会大于该第一绕线部，使该第一绕线部及该第二绕线部朝同一侧弯曲变形，其表面能够加大与一外管的内壁面的抵靠接触面积，以降低阻抗而避免检测时的误差。

为达上述目的，本实用新型的电子元件测试装置的偏心弹簧，其中该电子元件测试装置由一座体、一盖体、一承载平台、复数个弹性元件及复数个探针单元所组成，该每一探针单元至少包括一外管、该偏心弹簧及一探针头，利用该复数个探针单元接触该电子元件的各针脚时，以检测该每一针脚的电气导通状态，其特征在于：该偏心弹簧对应该外管设有一第一绕线部，该第一绕线部具有一第一中心轴，且于该偏心弹簧的其中一端设有一第二绕线部，该第二绕线部对应该第一中心轴而具有一第二中心轴，且该第一中心轴与该第二中心轴之间具有一第一设定间隔，使该第一绕线部及该第二绕线部的一侧边与该外管的内管壁相抵靠接触。

其中，该第一绕线部具有一第一圆径且该第二绕线部具有一第二圆径且该第一圆径与该第二圆径的比值介于1.5～3。再者，该第一绕线部及该第二绕线部的表面设有一导电金属层，故能有效提升其导电性。

于一实施例中，本实用新型的该电子元件测试装置的偏心弹簧，除原有的该第一绕线部及该第二绕线部外，还具有一第三绕线部，而设于该第一绕线部的另一端，且该第三绕线部具有一第三中心轴，该第一中心轴与该第三中心轴之间具有一第二设定间隔。再者，该第一绕线部具有一第一圆径且该第三绕线部具有一第三圆径且该第一圆径与该第三圆径的比值介于1.5～3。并且，在该第一绕线部及该第三绕线部的表面设有一导电金属层，也能有效提升其导电性。

与现有技术相比较，本发明具有的有益效果是：使用时，该探针头受到该引脚的压迫而压缩该偏心弹簧，进一步造成该偏心弹簧的弯曲形变，由于该偏心弹簧的该第二绕线部及该第三绕线部的圆径小于该第一绕线部，受压时会比较容易产生弯曲形变，且其弯曲形变时的方向也能被控制，故能与该外管的内壁面保持有效的抵靠接触，避免阻抗升高。