[实用新型]一种简易测量工具有效

专利信息
申请号: 201320021550.2 申请日: 2013-01-16
公开(公告)号: CN203132476U 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 颜杰;邱张其;娄源发;安聪慧;冯擎峰 申请(专利权)人: 浙江吉利汽车有限公司;浙江吉润汽车有限公司;浙江吉利控股集团有限公司
主分类号: G01B5/06 分类号: G01B5/06
代理公司: 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 代理人: 尉伟敏
地址: 315800 浙江省宁波市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 简易 测量 工具
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种测量装置,尤其涉及用于冲压件原材料厚度测量的一种简易测量工具。

背景技术

目前冲压件的原材料如钢板等,其来料基本上都是包料的形式,比如一包材料有100张薄板料,但是在冲压厂生产过程中有时会发现材料厂家标识牌上的数量与实际数量不一致,因此急需要一个简单快捷能在冲压生产前就发现问题的测量装置,来判断是否少料,另一方面冲压厂每月底都需要对剩余材料进行盘点并反库,如果一包材料只使用了一部分,生产线员工会在材料上面标识剩余数量,因此急需一个能检测材料厚度的简易测量装置,来检查是否与生产线员工标识剩余数量是否一致。

申请号为201080030143.7的中国专利公开了一种测量装置,包括开顶容器,所述开顶容器包括底座以及高度可调的侧壁,以提供可变的容量,所述侧壁包括安装在所述底座上的高度可调的环箍,其中所述环箍能安装在相对于所述底座的多个角位置中的任一所选角位置中,每个角位置对应于所述环箍在所述底座上的不同高度。但是这种测量装置无法用于冲压件原材料厚度的测量。

发明内容

本实用新型主要是提供一种简易测量工具,能够快速有效检查厂家来料数量,提高了对剩余材料进行盘点效率,结构简单,使用方便。

本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的:它包括主测量支架、活动套接在所述主测量支架上并可相对于主测量支架上下滑动的滑动测量支座、用于同待测件接触以测量待测件厚度的夹板机构和厚度指示机构,所述主测量支架和滑动测量支座之间设置有制有外螺纹的串接螺栓,所述串接螺栓上设有与滑动测量支座相配的锁紧旋钮,所述夹板机构包括设置在主测量支架上的下压紧板和设置在所述滑动测量支座上的上压紧板。本实用新型的滑动测量支座活动套接在主测量支架和串接螺栓上,滑动测量支座可在主测量支架和串接螺栓上上下滑动,当滑动测量支座移动时,设置在滑动测量支座上的上压紧板同步移动;本实用新型通过夹板机构来测量待测件,通过厚度指示机构来指示待测件的厚度;测量时,将待测件夹在夹板机构的下压紧板和上压紧板之间,并锁紧旋钮,滑动测量支座受到锁紧旋钮和待测件的限位,此时上压紧板紧压在待测件上,此时下压紧板与待测件的下部接触,上压紧板同待测件的上部接触,然后通过厚度指示机构指示待测件的厚度。

作为优选,所述指示机构包括设置在主测量支架一端的下测量标准凸台和设置在所述滑动测量支座一端并与所述下测量标准凸台正对的上测量标准凸台。 

作为优选,当所述滑动测量支座移动时,所述上测量标准凸台和下测量标准凸台之间的位移与所述上压紧板和下压紧板之间的位移相等。测量时,只要用测量尺测出上测量标准凸台和下测量标准凸台之间的位移即可。 

作为优选,所述下测量标准凸台包括下基准面,所述上测量标准凸台包括上基准面,所述下基准面和上基准面均为水平面平行。这样能更准确地测量待测件的厚度值。 

作为优选,所述主测量支架呈L形,主测量支架包括横杆和设置在横杆上的立柱。

作为优选,所述立柱上设有与所述下基准面和上基准面相配的刻度。 

作为优选,所述上压紧板和下压紧板均为圆柱状板,所述上压紧板的下端面和下压紧板的上端面正对。这样能够更精确得测得厚度值,并保证待测件平稳地夹持在上下压紧板之间。 

作为优选,所述串接螺栓固定在所述主测量支架上,所述滑动测量支座套接在所述串接螺栓和主测量支架上。 

本实用新型带来的有益效果是,采用本实用新型可在材料使用前快速有效的进行检测,检查材料数量是否与厂家表示数量是否一致,从而防止厂家偷工减料,另一方面在冲压月末盘点时如果发现很多使用过的半包材料,也就是材料没全部使用完,员工也可以用此工具进行测量,然后核对是否与员工标识的剩余材料数量是否一致,最终实现检查监督作用。

附图说明

附图1是本实用新型的一种结构示意图。

标号说明:1、主测量支架;2、滑动测量支座;3、串接螺栓;4、上测量标准凸台;5、下测量标准凸台;6、上压紧板;7、下压紧板;8、锁紧旋钮。

具体实施方式

下面通过实施例,并结合附图,对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。

实施例:本实施例的一种简易测量工具如图1所示,包括主测量支架1、活动套接在主测量支架1上并可相对于主测量支架1上下滑动的滑动测量支座2、用于同待测件接触以测量待测件厚度的夹板机构和厚度指示机构。

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