[发明专利]一种偏振复用光信号的OSNR的测试方法和装置在审
申请号: | 201310741683.1 | 申请日: | 2013-12-27 |
公开(公告)号: | CN104753587A | 公开(公告)日: | 2015-07-01 |
发明(设计)人: | 李晗;柳晟;李允博;王磊 | 申请(专利权)人: | 中国移动通信集团公司 |
主分类号: | H04B10/07 | 分类号: | H04B10/07 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 郭润湘 |
地址: | 100032 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 偏振 用光 信号 osnr 测试 方法 装置 | ||
1.一种偏振复用光信号的光信噪比OSNR的测试方法,其特征在于,该方法包括:
将待测信道中传输的偏振复用光信号通过光滤波器,得到待测信号,测量所述待测信号的功率值,所述待测信号包括设定波长的光信号和噪声信号;
将所述待测信号与单偏振态的泵浦光进行耦合处理,并将耦合处理后的所述待测信号和所述泵浦光通过非线性介质,得到在频域与所述待测信号关于所述泵浦光对称的新的频谱信号,测量得到所述新的频谱信号的功率值;
根据所述新的频谱信号的功率值及所述泵浦光信号的功率值,确定所述待测信号中的光信号的功率值,并根据所述待测信号的功率值和所述光信号的功率值,确定出光信噪比OSNR值。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述泵浦光为线偏振光、或者圆偏振光。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述非线性介质为高非线性光纤、非线性晶体、或者半导体光放大器。
4.如权利要求1~3任一项所述的方法,其特征在于,将所述待测信号与单偏振态的泵浦光进行耦合处理之后,且将耦合处理后的所述待测信号和所述泵浦光通过所述非线性介质,得到所述新的频谱信号之前,所述方法还包括:
通过光放大器,将耦合处理后的所述待测信号和所述泵浦光进行功率放大处理,并测量所述待测信号放大后的功率值。
5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,根据所述新的频谱信号的功率值及所述泵浦光信号的功率值,确定所述待测信号中的光信号的功率值,具体包括:
根据所述新的频谱信号的功率值及所述泵浦光信号的功率值,确定出所述待测信号中的光信号放大后的功率值;
根据所述待测信号的功率值和所述光信号的功率值,确定出的光信噪比OSNR值,具体包括:
根据所述待测信号放大后的功率值和所述光信号放大后的功率值,确定出放大处理后的OSNR值;
根据放大处理后的OSNR值和所述光放大器的噪声系数,确定放大处理前的OSNR值。
6.一种偏振复用光信号的光信噪比OSNR的测试装置,其特征在于,该装置包括:
第一处理模块,用于将待测信道中传输的偏振复用光信号通过光滤波器,得到待测信号,测量所述待测信号的功率值,所述待测信号包括设定波长的光信号和噪声信号;
第二处理模块,用于将所述待测信号与单偏振态的泵浦光进行耦合处理,并将耦合处理后的所述待测信号和所述泵浦光通过非线性介质,得到在频域与所述待测信号关于所述泵浦光对称的新的频谱信号,测量得到所述新的频谱信号的功率值;
OSNR计算模块,用于根据所述新的频谱信号的功率值及所述泵浦光信号的功率值,确定所述待测信号中的光信号的功率值,并根据所述待测信号的功率值和所述光信号的功率值,确定出光信噪比OSNR值。
7.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述泵浦光为线偏振光、或者圆偏振光。
8.如权利要求6所述的装置,其特征在于,述非线性介质为高非线性光纤、非线性晶体、或者半导体光放大器。
9.如权利要求6~8任一项所述的装置,其特征在于,所述第二处理模块在将所述待测信号与单偏振态的泵浦光进行耦合处理之后,且将耦合处理后的所述待测信号和所述泵浦光通过所述非线性介质,得到所述新的频谱信号之前,还用于:
通过光放大器,将耦合处理后的所述待测信号和所述泵浦光进行功率放大处理,并测量所述待测信号放大后的功率值。
10.如权利要求9所述的装置,其特征在于,所述OSNR计算模块具体用于:
根据所述新的频谱信号的功率值及所述泵浦光信号的功率值,确定出所述待测信号中的光信号放大后的功率值;根据所述待测信号放大后的功率值和所述光信号放大后的功率值,确定出放大处理后的OSNR值;以及,根据放大处理后的OSNR值和所述光放大器的噪声系数,确定放大处理前的OSNR值。
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