[发明专利]一种仪器校准方法及装置有效
申请号: | 201310724200.7 | 申请日: | 2013-12-25 |
公开(公告)号: | CN103697928A | 公开(公告)日: | 2014-04-02 |
发明(设计)人: | 张伟楠;杨立杰;胡志臣;史雄伟;李浩璧;邹璞 | 申请(专利权)人: | 北京航天测控技术有限公司 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00 |
代理公司: | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人: | 梁军 |
地址: | 100041 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 仪器 校准 方法 装置 | ||
1.一种仪器校准方法,其特征在于,包括:
建立仪器列表,所述仪器列表中包括至少两个仪器的校准属性信息;
根据待校准仪器的型号,从所述仪器列表中确定所述待校准仪器的校准属性信息;
根据所述校准属性信息校准所述待校准仪器。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述校准属性信息包括:属性地址、仪器型号、校准类型、校准通道个数、端口个数、端口类型、量程个数、量程范围、校准点个数、校准数据存储地址和校准条件存储地址,其中,所述校准类型包括输入校准或输出校准。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述校准属性信息校准所述待校准仪器包括:
确定所述待校准仪器的每个量程范围内的校准点;
根据所述待校准仪器的校准类型确定每个所述校准点对应的校准参考值;
将所述校准参考值存储到所述校准数据存储地址。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述待校准仪器的校准类型确定每个所述校准点对应的校准参考值包括:
如果所述待校准仪器的校准类型为输入校准,控制外部校准源向所述待校准仪器输入所述校准点代表的标准信号;
通过对所述标准信号进行测量,确定所述校准点对应的校准参考值。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述待校准仪器的校准类型确定每个所述校准点对应的校准参考值包括:
如果所述待校准仪器的校准类型为输出校准,控制所述待校准仪器向外部标准测量设备输出所述校准点代表的待校信号;
通过接收所述外部标准测量设备对所述待校信号的测量值,确定所述校准点对应的校准参考值。
6.根据权利要求3-5中任一项所述的方法,其特征在于,所述将所述校准参考值存储到所述校准数据存储地址包括:
在缓冲区建立多维数组,所述多维数组为包括仪器的端口号、校准通道号、量程号、校准点信息的多维数组;
将所述校准参考值存储到所述多维数组的量程号所指示的数组维度中;
将存储了所述校准参考值的所述多维数组存储到所述校准数据存储地址。
7.一种仪器校准装置,其特征在于,包括:
建立单元,用于建立仪器列表,所述仪器列表中包括至少两个仪器的校准属性信息;
确定单元,用于根据待校准仪器的型号,从所述仪器列表中确定所述待校准仪器的校准属性信息;
校准单元,用于根据所述校准属性信息校准所述待校准仪器。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,
所述校准属性信息包括:属性地址、仪器型号、校准类型、校准通道个数、端口个数、端口类型、量程个数、量程范围、校准点个数、校准数据存储地址和校准条件存储地址,其中,所述校准类型包括输入校准或输出校准。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述校准单元具体包括:
校准点确定模块,用于确定所述待校准仪器的每个量程范围内的校准点;
参考值确定模块,用于根据所述待校准仪器的校准类型确定每个所述校准点对应的校准参考值;
存储模块,用于将所述校准参考值存储到所述校准数据存储地址。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述存储模块具体用于:
在缓冲区建立多维数组,所述多维数组为包括仪器的端口号、校准通道号、量程号、校准点信息的多维数组;
将所述校准参考值存储到所述多维数组的量程号所指示的数组维度中。
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