[发明专利]一种测试有源天线系统共存共址杂散指标的方法在审
申请号: | 201310688319.3 | 申请日: | 2013-12-13 |
公开(公告)号: | CN104717025A | 公开(公告)日: | 2015-06-17 |
发明(设计)人: | 白雪;王鹏;侯建平;刘平 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | H04B17/15 | 分类号: | H04B17/15;H04B17/29 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 王黎延;张振伟 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 有源 天线 系统 共存 共址杂散 指标 方法 | ||
1.一种测试有源天线系统共存共址杂散性能指标的方法,其特征在于,所述方法包括:
测试环境校准,获得环境校准参数;
设置有源天线系统在获得了环境校准参数的测试环境中;
有源天线系统发射无线波束;
测量接收天线接收到的无线波束信号;
根据环境校准参数和接收天线接收到的无线波束信号测量值,确定有源天线系统的共存共址杂散性能指标。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述共存共址杂散性能指标是指有源天线系统全频段共存共址杂散性能指标。
3.根据权利要求1所述的方法,所述的测试环境为:吸波暗室或空旷无信号干扰的测试环境。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的测试环境校准包括:
在测试场设置发射天线和接收天线,其中所述的发射天线通过射频线缆连接到矢量网络分析仪的第一端口,接收天线通过射频线缆连接到矢量网络分析仪的第二端口;
调整转台使得发射天线的主波束跟接收天线正向对准;
通过矢量网络分析仪获得整个校准系统在待测共存共址杂散频段的插入损耗;
获得校准参数。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述的发射天线是增益标准天线,数目是一个或多个,所述发射天线所工作的频点能够覆盖待测共存共址杂散的频段。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述的矢量网络分析仪为信号源和频谱分析仪,此时发射天线通过射频线缆跟信号源连接,接收天线通过射频线缆跟频谱分析仪连接。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述共存共址杂散性能指标包括主波束方向共存共址杂散性能指标和非主波束方向共存共址杂散性能指标。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的确定有源天线系统共存共址杂散性能指标是根据EIRPs=Pg+ΔPc。
9.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述的非主波束方向共存共址杂散性能指标测试包括:
将有源天线系统水平或垂直放置在天线转台上;
使得有源天线系统处于发射模式,并发射固定指向的无线波束;
在有源天线的垂直方向图或水平方向图面内旋转测试转台;
获取不同角度的发射共存共址杂散频点的功率值;
根据获得的不同角度的功率值和环境校准参数ΔPc获取非主波束方向共存共址杂散性能指标。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述的在有源天线的垂直方向图或水平方向图面内旋转测试转台为顺时针旋转或为逆时针旋转。
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