[发明专利]表面等离子体共振成像检测装置及其光源

说明书

技术领域

本发明涉及检测技术领域，尤其涉及一种表面等离子体共振成像检测装置的光源及包括该光源的表面等离子体共振成像检测装置。

背景技术

表面等离子体共振(Surface Plasmon Resonance，简称为SPR)传感器是一种能够检测待测介质的光学性质（如介质厚度、折射率等）细微变化的传感器，其核心部件为金属功能层。当一定入射角度、波长和横磁（transverse magnetic，简称为TM）偏振方向的入射光，通过棱镜等耦合器后，会在金属功能层与待测介质之间的界面激发表面等离子波（Surface Plasmon Wave，简称为SPW）。当这种表面等离子波激发效率最多时将产生SPR现象，即界面反射光强度产生急剧衰减或者偏振方向发生变化，从而通过检测SPR现象对应的入射角度、入射波长、偏振方向或界面反射光强度的变化，实现对金属功能层与待测介质间界面附近待测介质的光学性质的探测。

20世纪80年代，SPR传感器就开始用于检测金属表面附近折射率的变化（Gordon，J.G.;Ernst,S.Surf.Sci.1980,101,499）。近些年来SPR传感器在药物筛选、生化研究等领域都得到了广泛的应用，目前已成为定性和定量分析生物分子反应（如动力学参数与检测物浓度）的重要工具（Homola，Chem.Rev.2008,108,462-493）。

现有技术中利用SPR原理，检测金属表面附近折射率变化的方法有四种，包括：角度检测、相位检测、波长检测和强度检测。其中，强度检测方法是将入射角度固定在反射光强度最小值附近，当检测点发生生化反应或者检测点的折射率发生变化时，反射光强度最小值对应的角度发生改变，同时带动固定入射角度处光照强度的变化，从而通过检测固定角度处，反射光强度的变化，得到生化反应或折射率变化的信息，被广泛应用于高通量的SPR成像检测。但是，现有技术中SPR成像检测装置成本较高。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种表面等离子体共振成像检测装置的光源及包括该光源的表面等离子体共振成像检测装置，以降低所述SPR成像检测装置的成本。

为解决上述问题，本发明实施例提供了如下技术方案：

一种表面等离子体共振成像检测装置的光源，包括：

产生白色出射光的白色LED；

对所述白色LED的出射光进行准直的准直器；

将准直后的出射光的偏振方向调节为TM偏振的起偏器；

调节所述起偏器的出射光光强的衰减器；

对所述衰减器的出射光进行滤波的滤波器。

优选的，所述准直器为单透镜。

优选的，所述滤波器为滤波片。

一种表面等离子体共振成像检测装置，包括：

基座；

水平固定于所述基座侧面上端的光学平台；

固定于所述光学平台侧面的正三角形光学棱镜，所述光学棱镜的一角垂直向下，位于所述光学棱镜的垂直中轴线上；

位于所述光学棱镜下方的同步扫描装置，所述同步扫描装置包括：电机；位于所述电机上方的滑块导轨；与所述电机相连，在所述电机的带动下，沿所述滑块导轨上下移动的滑块；与所述滑块相连，在所述滑块的带动下，在平行于所述基座平面内运动的连杆组；与所述连杆组一端相连的入射臂及与所述连杆组另一端相连的反射臂，其中，所述入射臂和反射臂相对设置于所述光学棱镜的两侧；

固定于所述入射臂上的光源，所述光源为权利要求1-3任一项所述的光源；

固定于所述反射臂上的图像接收装置。

优选的，所述连杆组包括：分别与所述滑块固定连接的第一连杆和第二连杆，所述第一连杆和第二连杆构成V型杆，且所述第一连杆的另一端与入射臂相连，所述第二连杆的另一端与反射臂相连。

优选的，所述连杆组包括：

分别与所述滑块固定连接的第一连杆和第二连杆，所述第一连杆和第二连杆构成倒V型杆；

与所述第一连杆另一端固定连接的第三连杆，所述第一连杆和第三连杆构成V型杆；

与所述第二连杆另一端固定连接的第四连杆，所述第二连杆与第四连杆构成V型杆；

与所述第一连杆和第三连杆的连接点、第二连杆和第四连杆的连接点滑动连接的圆弧导轨，所述第一连杆和第三连杆的连接点、第二连杆和第四连杆的连接点沿所述圆弧导轨保持对称滑动。

优选的，所述光学平台与所述光学棱镜通过圆环进行密封。

优选的，所述光学平台上与所述光学棱镜固定连接的位置设置有凹槽。