[发明专利]BPSK副载波相关解调位边界确定电路及方法有效
申请号: | 201310652435.X | 申请日: | 2013-12-05 |
公开(公告)号: | CN104702552B | 公开(公告)日: | 2018-08-14 |
发明(设计)人: | 王永流 | 申请(专利权)人: | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
主分类号: | H04L27/22 | 分类号: | H04L27/22 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 戴广志 |
地址: | 201203 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 副载波 高低电平 边界确定 解调 计数器 比较模块 同步期间 单周期 电路 统计计数器 边界标志 边界信号 产生模块 计数统计 锁定信号 参考 统计 翻转点 高电平 偏移量 上升沿 翻转 对位 成功率 检测 | ||
本发明公开了一种BPSK副载波相关解调位边界确定电路,包括一BPSK副载波上升沿计数器,一第一比较模块,一BPSK副载波高电平统计计数器,一第二比较模块,一BPSK副载波高低电平计数器,一首次翻转位边界信号产生模块。本发明还公开了一种BPSK副载波相关解调位边界确定方法,对位同步期间的单周期BPSK副载波的高低电平分别进行计数统计;统计完成后用统计平均值,作为位同步期间的单周期副载波的高低电平的计算参考值;将所述高低电平的计算参考值加上高低翻偏移量,作为首次高翻阈值和低翻阈值;将BPSK副载波的高低电平统计值与高低翻阈值相比较,得到位边界锁定信号和位边界标志信号。本发明能够提高首次翻转点检测的成功率。
技术领域
本发明涉及数字相关解调电路领域,特别是涉及一种ISO/IEC 14443协议规定的847k波特率下的BPSK(二相相移键控)副载波相关解调位边界确定电路。本发明还涉及一种BPSK副载波相关解调位边界确定方法。
背景技术
根据ISO/IEC14443协议(以下简称“协议”)规定的BPSK码流,在847k波特率下,每个副载波都代表了一个位周期。
根据协议规定,不管是typeA(类型A)还是typeB(类型B)的卡返回BPSK编码都有一定的位同步期,在同步期间不会有相位翻转,因此根据对位同步期的待解调副载波上升沿进行检测,可以选择出合理的上升沿作为基准参考副载波的起始点,产生基准副载波。
根据协议规定,在位同步期的数据认为是1’b1,第一次翻转后即跳变为1’b0。对于847k波特率,由于1个副载波对应1个位周期,因此数据期的第一次翻转点的确定非常重要。第一次翻转的位置与基准副载波的相位,由第一次翻转为高电平翻转或者低电平翻转决定。
结合图1所示,所谓高电平翻转,是第一次翻转点的高电平持续时间等于1个周期,即高翻;同理,所谓低电平翻转,是指第一次翻转点的低电平持续时间等于1个周期,即低翻。用数字相关的方式对847k波特率下的副载波进行解调时,是要确定每帧数据是高翻开始还是低翻开始。
由于基准信号的产生是按照位同步期的基准副载波的上升沿为基准,高翻和低翻的实际位边界是有半个副载波周期相位差的。因此后续对847k波特率下BPSK副载波进行数字相关解调时,如果不能准确的得到首次翻转的高翻或者低翻情况,就会出现解调时不能确定是用基准副载波的上升沿儿还是下降沿儿的时刻去判断相关结果。因此首次翻转点的确定对847k波特率下BPSK副载波的数字相关解调非常关键。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种BPSK副载波相关解调位边界确定电路,能够提高首次翻转点检测的成功率;为此,本发明还要提供一种BPSK副载波相关解调位边界确定方法。
为解决上述技术问题,本发明的BPSK副载波相关解调位边界确定电路,包括:
一BPSK副载波上升沿计数器,用于统计位同步期间模拟接收电路打开之后的BPSK副载波信号个数;
一第一比较模块,与所述BPSK副载波上升沿计数器相连接,用于限定BPSK副载波高电平统计计数器的计数范围;
一BPSK副载波高电平统计计数器,与所述第一比较模块相连接,根据限定的计数范围,在不稳定的几个BPSK副载波周期过后启动计数,用于统计连续多个位同步期的BPSK副载波高电平期间的系统时钟个数,并得到单周期高电平的平均系统时钟个数;根据高电平的平均系统时钟个数计算出单周期低电平的平均系统时钟个数;
一第二比较模块,与所述BPSK副载波高电平统计计数器相连接,将所述高电平的平均系统时钟个数加上高翻偏移量,得到高翻阈值;将所述低电平的平均系统时钟个数加上低翻偏移量得到低翻阈值;
一BPSK副载波高低电平计数器,用于统计每个周期BPSK副载波的高电平和低电平的系统时钟个数,在BPSK副载波的上升沿或者下降沿清0;
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