[发明专利]一种大米粒型检测系统无效

专利信息
申请号: 201310608232.0 申请日: 2013-11-25
公开(公告)号: CN103884274A 公开(公告)日: 2014-06-25
发明(设计)人: 牛晓芳 申请(专利权)人: 天津思博科科技发展有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300384 天津市滨海新区华苑产业区*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 米粒 检测 系统
【权利要求书】:

1.一种大米粒型检测系统,包括定位初始旋转外切矩形、顺时针旋转、判断跨度最小值和计算长宽比四个步骤;上述步骤的实现方式根据采集的大米图像数据执行所述定位初始旋转外切矩形步骤,然后以初始外切矩形为起点执行所述顺时针旋转步骤,执行所述顺时针旋转步骤的同时执行所述判断跨度最小值步骤,当旋转到跨度最小值时执行所述计算长宽比步骤。

2.根据权利要求1所述的一种大米粒型检测系统,其特征在于:所述定位初始旋转外切矩形步骤的实现方式为:图像坐标,填充区域R表示米粒区域,各边分别与图像坐标轴平行的米粒区域外切实线矩形为米粒区域的定位矩形,米粒区域边缘的最左坐标为(xL,yL),最右坐标为(xR,yR),最上坐标为(xT,yT),最下坐标为(xB,yB) ,将此定位外切矩形定为初始旋转外切矩形。

3.根据权利要求1所述的一种大米粒型检测系统,其特征在于:所述顺时针旋转步骤得实现方式为:以米粒区域的最左坐标点(xL,yL)及最右坐标点(xR,yR)为矩形对角点作一与初始旋转外切矩形成θ角的倾斜矩形,搜索该矩形各边上的像素,若有属于R的像素,则将该边向米粒区域外平移直至与米粒区域边缘相切,并扩展成米粒区域的外切矩形,该外切实线矩形就定为初始外切矩形旋转θ角后的外切矩形。

4.根据权利要求1所述的一种大米粒型检测系统,其特征在于:所述执行所述顺时针旋转步骤的同时执行所述判断跨度最小值步骤的实现方式为:随着旋转角θ的变化,kθ、lθ、mθ、nθ、D1、D2相应变化,取D1和D2中的最小值为米粒的粒宽成像值W(=min(D1min,D2min)),则与此宽方向垂直的另一方向上的间距值即为米粒的粒长成像值L。

5.根据权利要求1所述的一种大米粒型检测系统,其特征在于:所述所述计算长宽比步骤的实现方式为:米粒的长宽比为L/W。

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