[发明专利]一种连续型致密砂岩气藏含气范围的测量方法及系统有效

专利信息
申请号: 201310594366.1 申请日: 2013-11-21
公开(公告)号: CN103604916A 公开(公告)日: 2014-02-26
发明(设计)人: 庞雄奇;郭继刚;姜福杰 申请(专利权)人: 中国石油大学(北京)
主分类号: G01N33/24 分类号: G01N33/24
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 任默闻
地址: 102249*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 连续 致密 砂岩 气藏含气 范围 测量方法 系统
【权利要求书】:

1.一种连续型致密砂岩气藏含气范围的测量方法,其特征在于,所述方法包括:

获取烃源岩供排气量;

分别建立盖层处溢出气量、气水界面处扩散气量、连续型致密砂岩气藏圈闭气量、圈闭溢出气量与含气范围的对应关系式;

根据所述烃源岩供排气量与盖层处溢出气量、气水界面处扩散气量、连续型致密砂岩气藏圈闭气量及圈闭溢出气量的关系,利用所述对应关系式建立计算所述含气范围的计算方程;

根据所述计算方程迭代计算得到所述含气范围。

2.根据权利要求1所述的连续型致密砂岩气藏含气范围的测量方法,其特征在于,所述获取烃源岩供排气量利用的公式为:

Qe=Ro1Ro20Sn(-5.46+1.26×10-2×KTI+1.764×TOC+4.8×Ro)×Hn×dSncosa×dRo;---(1)]]>

其中,Qe为所述烃源岩供排气量,m3

Sn为烃源岩的分布面积,m2

KTI为干酪及类型指数;

TOC为烃源岩的有机碳质量百分数,%;

Ro、Ro1、Ro2分别为为镜质体反射率、第一镜质体反射率、第二镜质体反射率,%;

Hn为烃源岩的厚度,m;

a'为烃源岩储层的倾角,°。

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