[发明专利]一种连续型致密砂岩气藏含气范围的测量方法及系统有效
申请号: | 201310594366.1 | 申请日: | 2013-11-21 |
公开(公告)号: | CN103604916A | 公开(公告)日: | 2014-02-26 |
发明(设计)人: | 庞雄奇;郭继刚;姜福杰 | 申请(专利权)人: | 中国石油大学(北京) |
主分类号: | G01N33/24 | 分类号: | G01N33/24 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 任默闻 |
地址: | 102249*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 连续 致密 砂岩 气藏含气 范围 测量方法 系统 | ||
1.一种连续型致密砂岩气藏含气范围的测量方法,其特征在于,所述方法包括:
获取烃源岩供排气量;
分别建立盖层处溢出气量、气水界面处扩散气量、连续型致密砂岩气藏圈闭气量、圈闭溢出气量与含气范围的对应关系式;
根据所述烃源岩供排气量与盖层处溢出气量、气水界面处扩散气量、连续型致密砂岩气藏圈闭气量及圈闭溢出气量的关系,利用所述对应关系式建立计算所述含气范围的计算方程;
根据所述计算方程迭代计算得到所述含气范围。
2.根据权利要求1所述的连续型致密砂岩气藏含气范围的测量方法,其特征在于,所述获取烃源岩供排气量利用的公式为:
其中,Qe为所述烃源岩供排气量,m3;
Sn为烃源岩的分布面积,m2;
KTI为干酪及类型指数;
TOC为烃源岩的有机碳质量百分数,%;
Ro、Ro1、Ro2分别为为镜质体反射率、第一镜质体反射率、第二镜质体反射率,%;
Hn为烃源岩的厚度,m;
a'为烃源岩储层的倾角,°。
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