[发明专利]一种双级次光谱凸面光栅光谱仪有效

专利信息
申请号: 201310590962.2 申请日: 2013-11-21
公开(公告)号: CN103674246A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: 王跃明;郎均慰;王建宇;肖喜中;陈杨;鲍智康;王晟玮;庄晓琼;黄文俊 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 级次 光谱 凸面 光栅 光谱仪
【权利要求书】:

1.一种双级次光谱凸面光栅光谱仪,由狭缝(1)、凸面反射光栅(3)、凹球面反射镜(2)、分光片(4)、探测器A(5)和探测器B(6)组成,其特征在于:

来自物方的光束通过狭缝(1),射向凹球面反射镜(2),经其反射到凸面反射光栅(3),由光栅分光,反射出-1、-2级次光谱,再射向凹球面反射镜(2),经反射到分光片(4),由分光片分离,由两个探测器分别接收-1、-2级次的光谱图像;所述的光谱仪的工作波段划分为两个波段,所述的凸面反射光栅(3)的-1、-2级次光谱的衍射效率分别在这两个波段范围内保持高衍射效率,在分光片的透过截止波长处,对应的凸球面光栅的-1级次光谱衍射效率与-2级次光谱衍射效率近似相等;所述的两个探测器(5,6)的像元尺寸相同时,通过后期图像处理,将像元叠加,实现-1、-2级次光谱图像的分辨率一致。

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