[发明专利]一种电容测试夹具

说明书

技术领域

本发明涉及一种电容测试夹具，属于电容自动测试领域。

背景技术

宇航级电容的应用环境相对于其他电容更为恶劣，需要进行－55℃的模拟低温、125℃的高温下的电容测试，使得宇航级电容测试更为复杂和繁琐，而且宇航级电容也存在民品级电容检测和筛选过程中存在的使用量大、因各器件都要进行高低温筛选、试验及测试而非常耗费时间及人力物力的问题。将宇航级电容应用到航天电子线路前的筛选工作极为重要，因此宇航级电容测试成为航天事业发展的重要组成部分，而如何提高试验过程中的测试效率也成为人们面临的一大难题。

宇航级电容的检测和筛选过程为：将出厂电容装载到测试夹具上，在将其放置到高低温试验箱中进行老化和加压测试，在高低温试验后，取出夹具板，将电容从夹具上取出；之后，将电容装载到特殊的夹具上，然后将该夹具放到特定的试验箱中做温度系数试验，然后再将夹具取出，拆卸电容；完成电容的高低温试验后，再进行常温下的各种指标的测试。目前，有些单位采用人工手动的方式对电容的绝缘电阻值、电容值逐一进行测试，为了满足进度要求，提高测试速度，他们通常需要有很多测试人员同时进行测试，增加了劳动成本的同时因测试人员的经验不同得到的测试结果的准确性也不尽相同。

传统的电容测试夹具采用凹槽固定电容，金属弹簧加探针的方式进行加电，这种方式存在以下方面的缺陷：电容的固定和加电的夹具过大，在一块测试板上放120个测试夹具，在设计上造成困难，而且夹具的焊接不够牢固；由于要在很宽的温度范围内进行测试，金属弹簧随温度的变化会给宇航级电容各个参数的测试带来误差，造成电容参数测试的准确性降低；电容夹持比较麻烦且容易对电容电极造成伤害；在试验过程中由于涉及到多个试验环节，还需要进行电容的多次装夹和拆装，电容频繁的拆装，不但过程麻烦而且容易对电容造成损伤，影响宇航级电容的成品率；在测试过程中，需进行各种温度试验，然后再进行常温下的检测，而传统的电容测试夹具并不能对电容进行各种温度下的指标进行测试。

现有的电容测试夹具的各项性能指标虽然有所提高，但依然存在功能比较单一，无法满足大批量的自动测试功能，即不能形成对电容、电感、电阻等通用电子元器件的统一测试，且温度、绝缘性、测试精度、灵活性都比较差等问题。

由此可见，现有技术有待于进一步的改进和提高。

发明内容

本发明为避免上述现有技术存在的不足之处，提供了一种电容测试夹具。

本发明所采用的技术方案为：

一种电容测试夹具，包括底板、电极和多个被测电容，所述底板的上端面上设置有印制板，所述印制板上设置有多个电容装载区，各电容装载区均设置有两列数量相等且一一对应的电容装载孔，属于同一电容装载区的两列电容装载孔之间设置有多个极性点，所述底板上设置有与上述电容装载孔相对应的金属触点；所述底板的上方设置有电容固定板，所述电容固定板上设置有与上述电容装载区一一对应的电容固定区，电容固定区内设置有与上述电容装载孔数量相等且一一对应的电容固定孔，各电容固定区的两列电容固定孔之间设置有第一电极插孔，电容固定区内第一电极插孔的数量与上述极性点的数量相等且位置相对，属于同一电容固定区的两列电容固定孔之间还设置有第一螺纹孔；各被测电容依次穿过上述电容固定孔和电容装载孔后与上述金属触点相接触，所述电容固定板的上方设置有与上述电容固定区数量相等且一一对应的电容压持件。

所述各电容压持件包括横梁，所述横梁上开设有与上述第一螺纹孔相对应的第二螺纹孔及与上述第一电极插孔相对应的第二电极插孔，上述电极依次穿经第二电极插孔和第一电极插孔，所述横梁通过定位销钉与上述电容固定板相连；所述横梁的下方均布有与上述每列电容装载孔数量相等且位置相对的簧片，所述各簧片的两端分别用于压持被测电容。

所述电容装载区有六个，每列电容装载孔的数量为十二个。

属于同一电容装载区的两列电容装载孔之间设置有两个极性点，与之相对应的，各电容固定区的两列电容固定孔之间设置有两个第一电极插孔，横梁上设置有两个第二电极插孔。

属于同一电容固定区的两列电容固定孔之间设置有三个第一螺纹孔，与之相对应的，所述横梁上开设有三个第二螺纹孔。

所述印制板的一侧设置有接插件，所述接插件的共极性端串接有保险丝。

所述印制板是由聚四氟乙烯制成的。

所述横梁是由铝镁合金制成的。

所述簧片是由铍青铜制成的。

所述簧片与被测电容相接触的面经过表面抛光处理或在其上镀有硬金。

由于采用了上述技术方案，本发明所取得的有益效果为：