[发明专利]内爆芯部自发射诊断用多光谱显微成像系统

权利要求书

1.一种内爆芯部自发射诊断用多光谱显微成像系统，用于X射线源的多能段二维图像测量，其特征在于：包括顺序设置的前置滤片、KB显微镜、多层胶片和CCD；所述KB显微镜使用两组双周期多层膜叠加作为X射线反射材料；所述多层胶片为多层单面涂层的X射线胶片的叠加。

2.根据权利要求1所述的内爆芯部自发射诊断用多光谱显微成像系统，其特征在于：所述前置滤片具有低能截止特性，并且能够保护KB显微镜不受到X射线源产生的等离子体的损坏。

3.根据权利要求2所述的内爆芯部自发射诊断用多光谱显微成像系统，其特征在于：所述的前置滤片的材料选自C、Be或聚对二甲苯。

4.根据权利要求1所述的内爆芯部自发射诊断用多光谱显微成像系统，其特征在于：所述两组双周期多层膜中，一组为高能反射双周期多层膜，镀制于KB显微镜的镜面基底上，另一组为低能反射高能透射双周期多层膜，镀制于高能反射双周期多层膜上。

5.根据权利要求4所述的内爆芯部自发射诊断用多光谱显微成像系统，其特征在于：所述的双周期多层膜的材料选自W/C、W/B₄C、Cr/C、V/B₄C或W/Si。

6.根据权利要求4所述的内爆芯部自发射诊断用多光谱显微成像系统，其特征在于：所述的高能反射双周期多层膜的材料为W/C，所述的低能反射高能透射双周期多层膜的材料为Cr/C。

7.根据权利要求1所述的内爆芯部自发射诊断用多光谱显微成像系统，其特征在于：所述多层胶片的层数为2～4层。

8.根据权利要求1所述的内爆芯部自发射诊断用多光谱显微成像系统，其特征在于：所述多层胶片的层数为两层。

9.根据权利要求1所述的内爆芯部自发射诊断用多光谱显微成像系统，其特征在于：所述CCD采用型号为SI 1000的CCD，像素阵列为4k×4k。