[发明专利]清洁刮板、清洁装置、处理盒、以及图像形成设备有效

专利信息
申请号: 201310549352.8 申请日: 2013-11-07
公开(公告)号: CN104035308B 公开(公告)日: 2018-10-12
发明(设计)人: 太野大介;小野雅人;杉本勉;小岛纪章;高桥义典;田中敬 申请(专利权)人: 富士施乐株式会社
主分类号: G03G21/00 分类号: G03G21/00;G03G21/18;G03G15/00
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 宋丹氢;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 清洁 装置 处理 以及 图像 形成 设备
【权利要求书】:

1.一种清洁刮板,包括与被清洁部件接触的接触部,

其中,所述接触部至少含有聚氨酯橡胶,所述聚氨酯橡胶包括硬链段和软链段,并且在所述聚氨酯橡胶的硬链段中,在100℃或更高范围中按差示扫描量热法具有至少两个不同的吸热峰温度,

其中,在所述两个不同的吸热峰温度之中,高温侧的吸热峰温度(T1)在180℃~220℃范围中,以及,低温侧的吸热峰温度(T2)在120℃~160℃范围中。

2.根据权利要求1所述的清洁刮板,

其中,在所述两个不同的吸热峰温度之中,所述高温侧的吸热峰温度(T1)在185℃~215℃范围中。

3.根据权利要求1所述的清洁刮板,

其中,在所述两个不同的吸热峰温度之中,所述高温侧的吸热峰温度(T1)在190℃~210℃范围中。

4.根据权利要求1所述的清洁刮板,

其中,在所述两个不同的吸热峰温度之中,所述低温侧的吸热峰温度(T2)在120℃~140℃范围中。

5.根据权利要求1所述的清洁刮板,

其中,在所述两个不同的吸热峰温度之中,所述低温侧的吸热峰温度(T2)在120℃~130℃范围中。

6.根据权利要求1所述的清洁刮板,

在所述硬链段中,高熔点侧硬链段聚集体与低熔点侧硬链段聚集体相混合。

7.根据权利要求6所述的清洁刮板,

其中,所述高熔点侧硬链段聚集体的平均粒径为5μm~20μm。

8.根据权利要求6所述的清洁刮板,

其中,所述高熔点侧硬链段聚集体的平均粒径为5μm~15μm。

9.根据权利要求6所述的清洁刮板,

其中,所述高熔点侧硬链段聚集体的平均粒径为5μm~10μm。

10.根据权利要求6所述的清洁刮板,

其中,所述低熔点侧硬链段聚集体的平均粒径为0.10μm~0.50μm。

11.根据权利要求6所述的清洁刮板,

其中,所述低熔点侧硬链段聚集体的平均粒径为0.10μm~0.30μm。

12.根据权利要求6所述的清洁刮板,

其中,所述低熔点侧硬链段聚集体的平均粒径为0.10μm~0.20μm。

13.一种清洁装置,包括根据权利要求1至权利要求12中任一项权利要求所述的清洁刮板。

14.一种处理盒,包括根据权利要求13所述的清洁装置,其中,所述处理盒可从图像形成设备拆下。

15.一种图像形成设备,包括:

图像保持部件;

充电装置,其使所述图像保持部件充电;

静电潜像形成装置,其在充电后的图像保持部件的表面上形成静电潜像;

显影装置,其用色调剂使形成于所述图像保持部件表面的静电潜像显影,以形成色调剂图像;

转印装置,其将形成于所述图像保持部件上的所述色调剂图像转印在记录介质上;以及

根据权利要求13所述的清洁装置,其在由所述转印装置转印所述色调剂图像之后,使所述清洁刮板与所述图像保持部件的表面相接触,以进行清洁。

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