[发明专利]普通IO口识别输入状态的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201310548110.7 申请日: 2013-11-06
公开(公告)号: CN103543682A 公开(公告)日: 2014-01-29
发明(设计)人: 吴新祥 申请(专利权)人: 深圳市邦彦信息技术有限公司
主分类号: G05B19/042 分类号: G05B19/042
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 胡海国;赵爱蓉
地址: 518057 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 普通 io 识别 输入 状态 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种普通IO口识别输入状态的方法,其特征在于,包括:

将待读取输入状态的普通IO口设置为输入功能,读取所述普通IO口的初始电平状态;

根据所述初始电平状态对单片机的内部配置模块进行模式配置,并基于外部电阻模块及内部配置模块对所述普通IO口进行检测;

基于检测的结果识别所述普通IO口的输入状态。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述初始电平状态对单片机的内部配置模块进行模式配置,并基于外部电阻模块及内部配置模块对所述普通IO口进行检测的步骤具体为:

根据所述初始电平状态进行所述内部配置模块的模式配置,基于配置的所述内部配置模块及所述外部电阻模块对供电电源的电压进行分压,并对所述普通IO口的高低电平状态进行检测,获取检测结果。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,当所述初始电平状态为高电平状态时,所述根据所述初始电平状态对单片机的内部配置模块进行模式配置,并基于外部电阻模块及内部配置模块对所述普通IO口进行检测的步骤具体包括:

将所述内部配置模块配置成强下拉模式,对所述普通IO口的高低电平状态进行检测得到状态A;

基于所述状态A将所述内部配置模块配置成弱下拉模式,对所述普通IO口的高低电平状态进行检测得到状态B;

所述基于检测的结果识别所述普通IO口的输入状态的步骤具体为:

根据所述状态A、状态B识别所述普通IO口的输入状态。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,当所述初始电平状态为低电平状态时,所述根据所述初始电平状态对单片机的内部配置模块进行模式配置,并基于外部电阻模块及内部配置模块对所述普通IO口进行检测的步骤具体包括:

将所述内部配置模块配置成强上拉模式,对所述普通IO口的高低电平状态进行检测得到状态C;

基于所述状态C将所述内部配置模块配置成弱上拉模式,对所述普通IO口的高低电平状态进行检测得到状态D;

所述基于检测的结果识别所述普通IO口的输入状态的步骤具体为:

根据所述状态C、状态D识别所述普通IO口的输入状态。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,所述基于检测的结果识别所述普通IO口的输入状态的步骤还包括:

根据预先设定的所述普通IO口不同的输入状态与其代表的不同标示制定一查询表,识别出所述普通IO口的不同输入状态后,在所述查询表中进行查找比对,识别出与之对应的标示。

6.一种普通IO口识别输入状态的装置,其特征在于,包括:

读取模块,用于将待读取输入状态的普通IO口设置为输入功能,读取所述普通IO口的初始电平状态;

配置检测模块,用于根据所述初始电平状态对单片机的内部配置模块进行模式配置,并基于外部电阻模块及内部配置模块对所述普通IO口进行检测;

识别模块,用于基于检测的结果识别所述普通IO口的输入状态。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述配置检测模块用于:

根据所述初始电平状态进行所述内部配置模块的模式配置,基于配置的所述内部配置模块及所述外部电阻模块对供电电源的电压进行分压,并对所述普通IO口的高低电平状态进行检测,获取检测结果。

8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述外部电阻模块为外部上拉电阻,所述外部上拉电阻的一端与单片机的供电电源连接,所述外部上拉电阻的另一端与所述普通IO口连接;所述内部配置模块用于配置强下拉模式、弱下拉模式。

9.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述外部电阻模块为外部下拉电阻,所述外部下拉电阻的一端与所述普通IO口连接,所述外部下拉电阻的另一端接地;所述内部配置模块用于配置强上拉模式、弱上拉模式。

10.根据权利要求6至9中任一项所述的装置,其特征在于,所述识别模块用于:

根据预先设定的所述普通IO口不同的输入状态与其代表的不同标示制定一查询表,识别出所述普通IO口的不同输入状态后,在所述查询表中进行查找比对,识别出与之对应的标示。

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