[发明专利]基于单固体FP标准具四边缘技术的双频率多普勒激光雷达测量系统有效
申请号: | 201310542632.6 | 申请日: | 2013-11-01 |
公开(公告)号: | CN103592652B | 公开(公告)日: | 2017-04-05 |
发明(设计)人: | 沈法华 | 申请(专利权)人: | 盐城师范学院 |
主分类号: | G01S17/95 | 分类号: | G01S17/95;G01S7/481;G01P5/26;G01P13/02 |
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地址: | 22405*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 固体 fp 标准 边缘 技术 双频 多普勒 激光雷达 测量 系统 | ||
技术领域
本发明涉及一种多普勒激光雷达测量系统,特别涉及一种基于单固体FP标准具四边缘技术的双频率多普勒激光雷达测量系统。
背景技术
从上世纪八十年代开始,直接探测多普勒激光雷达技术得到了迅猛的发展,先后出现了两种多普勒频率检测技术:边缘技术和条纹成像技术。边缘技术最先是基于FP干涉仪单边缘技术。1998年,Korb等人发展了基于FP干涉仪的双边缘技术。除了采用FP干涉仪作为鉴频器之外,后来还发展了采用碘分子谱线进行鉴频的方法。2001年Bruneau D提出了采用Mach-Zehnder干涉仪作为边缘技术的鉴频器。条纹成像技术最先采用的FP干涉仪作为鉴频器。由于FP干涉仪产生的是环状条纹,给直接检测带来不便。2002年,J A Mckay分析了采用Fizeau干涉仪作为鉴频器的检测性能,同年Bruneau D提出了采用Mach-Zehnder干涉仪作为条纹成像技术的鉴频器。相比较而言,基于FP干涉仪的双边缘技术是目前最为普遍采用的技术。但通过仔细分析发现,该技术只利用了FP干涉仪透射信号的鉴频能力,而没有利用反射信号的鉴频能力。这样无论从探测信噪比角度,还是从系统鉴频灵敏度来看,都可能没有充分挖掘FP干涉仪的频谱特性。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:提供一种基于单固体FP标准具四边缘技术的双频率多普勒激光雷达测量系统,能用基于单个FP标准具四边缘技术的双频率多普勒激光雷达测量风速。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:本发明的风速测量原理如图1所示,FP标准具的任意一级透射谱和反射谱的前后两腰分别相交,形成四个边缘。为充分利用这四个边缘,发射激光频率v0i(i=1,2)在两个交点附近交替改变,从而形成“双频率四边缘”探测技术。发射激光入射到大气中,遇到有宏观运动速度的气溶胶粒子或大气分子(即风速),由于光的多普勒效应,与发射激光相比,后向散射光的频率vi(i=1,2)将存在和激光发射方向风速分量(即径向风速)Vr相对应的多普勒频移量vd=vi-v0i=2Vr/λ,其中λ为发射激光波长。这样,后向散射光信号经过FP标准具的透过率和反射率将发生相应变化。根据透过率和反射率的变化量,根据事先已知的透射谱和反射谱可以算得多普勒频移量,进而得到径向风速的大小和方向。
频率为v的单色平行光入射到理想的Fabry-Perot标准具的透过率和反射率分别为:
其中θ为入射角;vFSR=c/2nd为标准具自由谱间距,d为平板的间隔,n为板间的折射率,c为真空中光速;Δv1/2为标准具带宽。
然而,实际入射到FP标准具的光信号是由光纤耦合,并经过准直系统后得到,故不是严格的平行光;同时,无论是发射激光,还是后向散射信号光都不是严格的单色光。此外,实际FP标准具对入射光信号存在吸收和散射等影响;实际标准具的两个平板表面不严格平整,存在一定的缺陷;两平板也不可能做到严格平行,存在一定的不平行度。假设入射到实际FP标准具的光信号全发散角为2θ0、频谱为高斯分布(因发射激光谱线、米后向散射谱和瑞利后向散射谱理论上都近似为高斯分布)且光强均匀,经推导该光信号经过FP标准具后的透过率和反射率分别为
其中
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