[发明专利]气体传感器及其形成方法在审
申请号: | 201310541714.9 | 申请日: | 2013-11-05 |
公开(公告)号: | CN104614401A | 公开(公告)日: | 2015-05-13 |
发明(设计)人: | 倪梁;伏广才;汪新学 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | G01N27/00 | 分类号: | G01N27/00;B82Y15/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 气体 传感器 及其 形成 方法 | ||
技术领域
本发明涉及半导体技术领域,特别涉及气体传感器及其形成方法。
背景技术
气体传感器是一种将外界气体的成分、浓度转化成对应电信号的转换器。现有技术提出了一种将IC电路应用到气体传感器的制造工艺,得到一种兼容IC电路的气体传感器。
现有技术的气体传感器的形成方法包括:
参照图1,提供基底1,在基底1上形成有SiO2层2,SiO2层2起到绝缘隔离作用;在SiO2层2上形成有正极3和负极4,正极3和负极4相互隔开,正极3和负极4为高掺杂多晶硅,正极3和负极4呈梳状,正极3具有朝向负极4延伸的第一梳尺件5,负极4具有朝向正极3延伸的第二梳尺件6,第一梳尺件5和第二梳尺件6相互隔开。
参照图2,在所述第一梳尺件5和第二梳尺件6上形成Au层7;
参照图3,使用汽-液-固单晶硅生长(vapor-liquor-solid of single crystal growth)工艺,设置反应腔内的最低温度为温度363℃,向反应腔内通入硅烷(Silane)气体。在该反应腔环境中,Au层7(参照图2)缩成Au颗粒,起到催化剂作用,硅烷分子中的硅原子与氢原子之间的化学键断开,氢原子结合成氢气被排出,硅原子穿过Au颗粒状至SiO2层2表面,并结合为单晶硅。在该过程中,硅原子主要是沿垂直于SiO2层2上表面方向生长形成硅纳米线8,同时还沿硅纳米线8的表面向外生长形成丝9。这样相邻的第一梳状件5和第二梳状件6通过硅纳米线表面的丝9相互连接,实现硅纳米线8将正极3和负极4相互连接。
当外界气体为中性气体,在正极3和负极4之间通电,由于硅纳米线8不导电,正极3和负极4不导通;当外界气体为带正电离子态或带负电离子态,带电气体离子附着在硅纳米线8表面,使得硅纳米线8导电,正极3和负极4导通。在实践中,该气体传感器可应用到生产、生活中,用于监控生产、生活环境中的有害气体含量;还可与控制电路连接,当气体传感器导通,控制电路接收电信号并转化成气体成分、浓度等参数。
但是,现有技术的气体传感器形成工艺,单晶硅主要沿垂直于SiO2层上表面方向生长,而硅纳米线8表面的丝9的生长有限,丝9的数量有限且相邻第一梳状件5和第二梳状件6之间的丝9的表面积不大,可吸附的带电气体离子有限,影响第一梳状件5和第二梳状件6之间的导通,严重的话,丝9上的带电气体离子不足以使第一梳状件5和第二梳状件6导通,这会降低气体传感器的灵敏性,造成气体传感器的性能不佳。
发明内容
本发明解决的问题是,现有技术形成气体传感器的工艺,会降低气体传感器的灵敏性,造成气体传感器的性能不佳。
为解决上述问题,本发明提供一种气体传感器的形成方法,该气体传感器的形成方法包括:
提供基底;
在所述基底上形成绝缘层;
在所述绝缘层上形成Au层,在所述Au层上形成导电层;
对所述导电层进行图形化形成正极、负极;
去除所述正极和负极之间的Au层;
在含硅气体环境中,使用汽-液-固单晶硅生长工艺,在所述正极和负极之间的绝缘层上生长硅纳米线,所述正极和所述负极通过硅纳米线电连接。
可选地,所述正极与负极之间的距离范围为1μm~50μm。
可选地,所述基底为掺杂硅基底。
可选地,所述导电层的材料为金属或掺杂多晶硅。
可选地,所述金属为Ti或Ta。
可选地,对所述导电层进行图形化形成正极、负极的方法包括:
在所述导电层上形成图形化的掩模层,所述图形化的掩模层定义正极或负极的位置;
以所述图形化的掩模层为掩模,干法刻蚀导电层形成正极、负极;
去除图形化的掩模层。
可选地,去除所述正极和负极之间的Au层的方法为湿法刻蚀法。
可选地,所述湿法刻蚀法过程,使用的刻蚀剂为碘-碘化钾溶液,在所述碘-碘化钾溶液中,碘-碘化钾溶液中,KI的质量浓度范围为2%~20%,I2的质量浓度范围为1%-10%。
可选地,所述Au层的厚度范围为小于10nm。
可选地,所述含硅气体为SiH4、SiCl4或Si2H6中的一种或多种。
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