[发明专利]SOC芯片LVDS接口测试方法及装置

权利要求书

1.一种SOC芯片LVDS接口测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

将集成在SOC芯片中的LVDS发送器输出的串行信号转换为TTL电平的并行信号；

对TTL电平的并行信号进行测试。

2.根据权利要求1所述的SOC芯片LVDS接口测试方法，其特征在于，所述TTL电平的并行信号包括RGB信号及频率信号，所述频率信号包括主频信号、行同步信号、场同步信号及使能信号。

3.根据权利要求2所述的SOC芯片LVDS接口测试方法，其特征在于，所述对TTL电平的并行信号进行测试的步骤包括：

对RGB信号电平状态进行比对；

对主频信号、行同步信号、场同步信号及使能信号进行频率测试。

4.根据权利要求3所述的SOC芯片LVDS接口测试方法，其特征在于，在所述将集成在SOC芯片中的LVDS发送器输出的串行信号转换为TTL电平的并行信号的步骤之前还包括以下步骤：

配置LVDS发送器按照固定格式发送数据；

设置主频信号、行同步信号、场同步信号及使能信号的频率大小；

设置参考频率；

设置测试所需标准数据。

5.根据权利要求4所述的SOC芯片LVDS接口测试方法，其特征在于，LVDS发送器发送的数据包括0x00a5a5a5和0x005a5a5a。

6.根据权利要求4所述的SOC芯片LVDS接口测试方法，其特征在于，所述设置测试所需标准数据的步骤包括：

预存与RGB电平状态进行比对的标准数据；

预存参考频率计数的目标数；

根据频率信号的频率大小计算其对应于参考频率计数目标数的标准计数。

7.根据权利要求6所述的SOC芯片LVDS接口测试方法，其特征在于，所述对主频信号、行同步信号、场同步信号及使能信号进行频率测试的步骤包括：

对参考频率和被测频率信号同时开始计数；

参考频率计数达到目标数时停止计数；

得到此时被测频率信号的实际计数；

比对被测频率信号的实际计数与标准计数；

如果实际计数与标准计数相等或在标准计数允许误差范围内，则测试通过。

8.根据权利要求4所述的SOC芯片LVDS接口测试方法，其特征在于，所述设置测试所需标准数据的步骤包括：

预存与RGB电平状态进行比对的标准数据；

设置参考频率为计数器输入时钟；

根据频率信号的频率大小计算其一个周期内高、低电平所对应的输入时钟的标准计数。

9.根据权利要求8所述的SOC芯片LVDS接口测试方法，其特征在于，所述对主频信号、行同步信号、场同步信号及使能信号进行频率测试的步骤包括：

将被测信号一个周期内的高电平和低电平作为计数允许信号，分别得到被测信号一个周期内高、低电平所对应的输入时钟的实际计数；

比对实际计数与标准计数；

如果实际计数与标准计数相等或在标准计数允许误差范围内，则测试通过。

10.一种SOC芯片LVDS接口测试装置，其特征在于，包括：用于将集成在SOC芯片中的LVDS发送器输出的串行信号转换为TTL电平的并行信号的LVDS接收器，及用于对TTL电平的并行信号进行测试的可编程逻辑器件。