[发明专利]触控检测装置及触控检测方法在审

专利信息
申请号: 201310522408.0 申请日: 2013-10-29
公开(公告)号: CN104516599A 公开(公告)日: 2015-04-15
发明(设计)人: 张志远 申请(专利权)人: 联咏科技股份有限公司
主分类号: G06F3/044 分类号: G06F3/044
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 臧建明
地址: 中国台湾新竹科学工*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 检测 装置 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种触控检测装置及触控检测方法。

背景技术

在现有的技术中,提供多点触碰检测的触控技术已成为触控装置的基本要求。并且,互容式触控检测在进行多点触碰的检测较自容式触控检测更为精准。然而,在针对触控板的电容变化进行检测的同时,可能会因为使用者的操作模式(手持或非手持)、触控装置是否进行充电以及自然界的噪声干扰(水气、温度/湿度、电磁波等),而造成触控点位置信息的检测上的困难。

在现有的技术领域中,上述关于造成触控点位置信息的检测困难,多利用设置额外的硬件,或特殊设置的固件来加以克服。或者,现有技术中,也有提出在对触控面板进行互容式触控检测,额外进行自容式触控检测的作法。然而,这样的作法显然需要很长的触控检测时间,尤其应用在大尺寸的触控面板上更为明显。而较长的触控检测时间的需求,会造成触控敏感度的降低。

发明内容

本发明提供一种触控检测装置及触控检测方法,有效提升触控检测的效率。

本发明的触控检测方法适用于具有多条触控行以及多条触控列的触控面板,触控检测方法包括:同时的针对该触控面板执行互容式触控检测以及自容式触控检测,以分别获得互容式检测结果以及自容式检测结果,并针对互容式检测结果以及自容式检测结果进行运算以获得触控面板上的至少一触控点的位置信息。

本发明的触控检测装置,包括触控面板以及触控检测控制器。触控面板具有多条触控行以及多条触控列,触控检测控制器连接触控行以及触控列。触控检测控制器同时针对触控面板执行互容式触控检测以及自容式触控检测,以分别获得互容式检测结果以及自容式检测结果,并针对互容式检测结果以及自容式检测结果进行运算以获得触控面板上的至少一触控点的位置信息。

基于上述,本发明通过同步进行互容式触控检测以及自容式触控检测,有效降低检测所需的时间。并且,本发明同时搭配互容式检测结果以及自容式检测结果下来获得触控点的位置信息,使触控点的位置信息可以准确的被检测出。如此一来,本发明提供的触控检测方法可以快速且准确的检测出触控点的位置信息,提升触控检测装置的整体效益。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂,下文特举实施例,并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1示出本发明一实施例的触控检测方法的流程图;

图2A~图2C分别示出本发明实施例的多个实施方式;

图3A示出本发明一实施例的触控检测装置的示意图;

图3B示出本发明触控检测装置实施例的一实施方式;

图4A示出本发明实施例的触控检测装置的部分路示意图;

图4B示出本发明实施例的触控检测装置的触控检测动作的波形图。

附图标记说明:

S110~S120、S211~S213、S221~S223、S231~S233:触控检测步骤;

300:触控检测装置;

310:触控面板;

X1~XM:触控行;

Y1~YN:触控列;

320:触控检测控制器;

3211~321N、3221~322M:触控检测控制电路;

410、420:模拟前端电路;

SP1、SP2:取样点;

TA、TB:时间周期;

TXE:发射端点;

RXE:接收端点;

GND:接地端点;

CTX、CRX:自容电容;

CM:互容电容;

VRX、VTX:电压;

VINT:触控驱动信号;

VOUTs、VOUTm:检测电压。

具体实施方式

请参照图1,图1示出本发明一实施例的触控检测方法的流程图。其中,触控检测方法适用于触控面板上,且触控面板具有多条触控行以及多条触控列。本实施例的触控检测方法的步骤包括:首先,在步骤S110中,同时针对触控面板进行自容式触控检测以及互容式触控检测,并且,所进行的自容式触控检测可以获得自容式检测结果,而所进行的互容式触控检测则可以获得互容式检测结果。

接着,在步骤S120中,则针对在步骤S110中所获得的自容式检测结果以及互容式检测结果来进行算术运算,并通过算术运算的结果来获得一个或多个触控点的位置信息。

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