[发明专利]基于D/8条件对SCI误差修正的分光测色仪及其方法

权利要求书

1.一种基于D/8条件对SCI误差修正的分光测色仪，用于测量样品的颜色，其特征在于，所述分光测色仪包括：光阱、光源、积分球、第一拨片、第一拨片控制装置、光谱仪、第二拨片、第二拨片控制装置和用于进行数据处理的处理装置；

所述积分球的侧壁设置有一入射口，所述光源发出的光线通过所述入射口进入积分球；所述样品设置在积分球的下部开孔处；所述光谱仪设置在积分球上垂直于样品法线的-8°的位置处；所述光阱设置在积分球上垂直于样品法线的+8°的位置处，且在所述积分球上垂直于样品法线的+8°的位置处设置有上部开孔；所述第一拨片设置在光阱处，且第一拨片上涂覆与积分球内壁相同的白色漫反射涂料；所述第一拨片控制装置连接第一拨片；所述第二拨片设置在积分球的下部开孔处，且在第二拨片上设置有标准白板；所述第二拨片控制装置连接第二拨片；所述光谱仪连接所述处理装置；

所述第一拨片控制装置控制所述第一拨片关闭积分球上部开孔，得到无光阱的SCI测量条件；然后所述第二拨片控制装置控制所述第二拨片关闭积分球下部开孔；所述光源发出的光经过积分球漫反射到所述标准白板上；所述光谱仪接收经标准白板表面反射过来的反射光；所述第二拨片控制装置再控制所述第二拨片打开积分球下部开孔；所述光源发出的光经过积分球漫反射到所述样品上；所述光谱仪接收经样品表面反射过来的反射光；所述处理装置对光谱仪两次测量的信号进行数据处理而获得相应的第一测量结果；

所述拨片控制装置控制所述拨片打开积分球上部开孔，得到有光阱的SCE测量条件；然后所述第二拨片控制装置控制所述第二拨片关闭积分球下部开孔；所述光源发出的光经过积分球漫反射到所述标准白板上；所述光谱仪接收经标准白板表面反射过来的反射光；所述第二拨片控制装置再控制所述第二拨片打开积分球下部开孔；所述光源发出的光经过积分球漫反射到所述样品上；所述光谱仪接收经样品表面反射过来的反射光；所述处理装置对光谱仪两次测量的信号进行数据处理而获得相应的第二测量结果；

所述处理装置根据所述第一测量结果和第二测量结果计算样品表面的光泽并对第一测量结果进行修正。

2.根据权利要求1所述的基于D/8条件对SCI误差修正的分光测色仪，其特征在于，所述拨片控制装置为步进电机，所述处理装置为计算机。

3.根据权利要求1所述的基于D/8条件对SCI误差修正的分光测色仪，其特征在于，所述光源为包括多个LED光源的LED复合光源。

4.根据权利要求3所述的基于D/8条件对SCI误差修正的分光测色仪，其特征在于，所述LED复合光源包括5个LED光源，分别为色温3500K的白光LED，及峰值波长为400nm、480nm、680nm和700nm的单色LED。