[发明专利]在薄膜输入装置上检测触压点的方法

说明书

技术领域

本发明公开一种在薄膜输入装置上检测触压点的方法，尤其涉及一种通 过动态挂载无需过高阻值的感应电阻于薄膜输入装置上的部分感应线以使多 个被触压的感应线交错点不致因感应电阻并联而减小阻值造成电位过高而被 误判为未被触压的方法。

背景技术

含纯碳的碳混合银浆膜因为其材料成本相对纯银浆膜来的低廉许多，因 此未来极有可能作为制造键盘为主的各种薄膜输入装置时的主要材料。然而， 由于碳混合银浆膜的电阻值比纯银浆膜的电阻值来的大上非常多，因此若薄 膜输入装置所使用的感应电阻值不够大，多个键被按压时，其感应电阻会受 并联而明显减小阻值，而使得以碳混合银浆膜制造的薄膜输入装置在被使用 时，常会有误判被按压的按键为未被按压的按键的情形发生。

请参阅图1，其为一般以碳银浆混合膜制造的一薄膜输入装置100中薄 膜电阻的等效电路示意图。如图1所示，薄膜输入装置100包含了一薄膜元 件101以及一未图示的处理器。薄膜元件101包含了至少多条纵向感应线 SL1、SL2与多条横向感应线RL1、RL2、RL3，其中纵向感应线SL1上包含 有多个串联的电阻Rs11、Rs12、Rs13、Rs14，纵向感应线SL2上包含有多个 串联的电阻Rs21、Rs22、Rs33、Rs24，横向感应线RL1上包含有多个串联 的电阻Rr11、Rr12、Rr13，横向感应线RL2上包含有多个串联的电阻Rr21、 Rr22、Rr23，横向感应线RL3上包含有多个串联的电阻Rr31、Rr32、Rr33。 如图1所示，纵向感应线SL1、SL2与横向感应线RL1、RL2、RL3交错出共 六个交错点，且这些交错点上的电位可用来判定这些交错点是否被按压，而 据以判定出使用者对薄膜输入装置100的正确触压点。另外，当未被按压时， 各横向感应线与各纵向感应线之间彼此不会接触，反之，当一横向感应线与 一纵向感应线之间的交错点被按压时，该横向感应线与该纵向感应线之间会 彼此接触。另外，图1所示的横向开关SWR1、SWR2、SWR3、纵向开关SWL1、SWL2、以及感应电阻Rpu1、Rpu2、Rpu3、Rpu4等皆被包含于上述的处理 器中。

薄膜输入装置100检测触压点的方式主要是：(1)将单一纵向感应线(例如 图1所示的纵向感应线SL1)的一端接地，以将该纵向感应线放电，并将其他 纵向感应线都通过一感应电阻(例如纵向感应线SL2通过纵向开关SWL2所挂 载的感应电阻Rpu4)而挂载于一直流电压源VDD；(2)将(1)中与被接地的纵向 感应线交错的所有横向感应线(例如图1所示的横向感应线RL1、RL2、RL3) 都通过感应电阻(例如横向感应线RL1、RL2、RL3各自通过横向开关SWR1、 SWR2、SWR3所各自挂载的感应电阻Rpu1、Rpu2、Rpu3)而挂载于直流电压 源VDD。通过步骤(1)、步骤(2)，可将该单一纵向感应线上的所有触压点检 测出来，且可再依序将步骤(1)、步骤(2)实施于其他的单一纵向感应线，以完 整掌握薄膜输入装置100上的所有触压点。在此文案中都假设每一感应线所 挂载的感应电阻的电阻值皆相等为一感应电阻值Rpu，也就是说感应电阻 Rpu1、Rpu2、Rpu3、Rpu4的电阻值皆相等为感应电阻值Rpu。

步骤(1)与步骤(2)的实施方式将更详细描述如下。当纵向感应线SL1被检 测时，如果与之交错的一横向感应线(例如横向感应线RL1)上的电位被检测到 低于一临界按压电位Vth(其可为代表逻辑值0的一低电位)，则代表该纵向感 应线与该横向感应线的交错点被按压而使得该纵向感应线暂时接触于该横向 感应线，并使得该交错点的电位因通过该纵向感应线所连接的接地端而被放 电至低于该临界按压电位；反之，如果该横向感应线上的电位被检测到未低 于该临界按压电位，则代表该纵向感应线与该横向感应线的交错点因为未被 按压而使得该纵向感应线此时未接触于该横向感应线，使得该交错点的电位 大约等于直流电压源VDD的电位。