[发明专利]一种珍珠珠层厚度的无损检测方法

权利要求书

1.一种珍珠珠层厚度的无损检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一、利用X射线放射源逐一照射两个待测物体，得到两个初始图像，其中，所述两个待测物体包括标准球体和待测珍珠，其中，待测珍珠包括珠核以及环状的珠层，所述珠核位于所述珠层的中心；

步骤二、依次从两个初始图像中识别出两个待测物体图像的边界点，具体过程为：(1)所述初始图像由多个规则排列的像素点构成，依据各像素点的灰度值对各像素点进行区分，如一个像素点的灰度值高于灰度阈值，则该像素点为构成待测物体图像的像素点，如一个像素点的灰度值低于灰度阈值，则该像素点为构成背景的像素点，(2)检测所有的像素点，在相邻两个像素点中，第一个像素点为构成待测物体图像的像素点，第二个像素点为构成背景的像素点时，以第一个像素点为待测物体图像的边界点，从而识别出待测物体图像的所有的边界点；

步骤三、以标准球体为待测物体时，利用步骤二识别出的边界点拟合成一个圆，并以该圆的半径为标准球体图像的半径R₀；

步骤四、以待测珍珠为待测物体时，利用步骤二识别出的边界点拟合成三个同心圆，其中，以位于中心的一个圆的半径为珠核图像的半径R₂，以位于最外侧的一个圆的半径为待测珍珠图像的半径R₁；

步骤五、所述待测珍珠的半径为r₁=μR₁，所述珠核的半径为r₂=μR₂，则所述珠层厚度为r=r₁-r₂，其中，比例系数μ=r₀／R₀，r₀为所述标准球体的半径。

2.如权利要求1所述的珍珠珠层厚度的无损检测方法，其特征在于，所述步骤一中，利用X射线放射源逐一照射两个待测物体，得到两个初始图像，具体过程为：

(1)成像设备提供一成像平面，在X射线放射源和所述成像平面之间规划一平行于所述成像平面的参考直线，将所述标准球体设置在所述X射线放射源和所述成像平面之间，并且使所述标准球体的球心位于所述参考直线上，利用所述X射线放射源照射所述标准球体，从而在所述成像平面上得到第一初始图像；

(2)将待测珍珠设置在X射线放射源和成像设备之间，并且使所述待测珍珠的球心也位于所述参考直线上，利用所述X射线放射源照射所述待测珍珠，从而在所述成像平面上得到第二初始图像。

3.如权利要求2所述的珍珠珠层厚度的无损检测方法，其特征在于，所述步骤一的(1)中，所述标准球体的球心位于所述X射线放射源到所述成像平面的垂线段上；所述步骤一的(2)中，所述待测珍珠的球心也位于所述X射线放射源到所述成像平面的垂线段上。

4.如权利要求3所述的珍珠珠层厚度的无损检测方法，其特征在于，所述X射线放射源到所述参考直线的距离a≥20r₀。

5.如权利要求4所述的珍珠珠层厚度的无损检测方法，其特征在于，所述步骤一中，选择与所述待测珍珠的半径接近的标准球体。

6.如权利要求5所述的珍珠珠层厚度的无损检测方法，其特征在于，所述标准球体为钢球。

7.如权利要求1～6中任一项所述的珍珠珠层厚度的无损检测方法，其特征在于，所述步骤四中，以待测珍珠为待测物体时，在步骤二识别出的所有的边界点中，彼此相邻的两个边界点位于同一条边界上，从而判断出分别构成珠核的边界的第一组边界点、构成珠层的内边界的第二组边界点以及构成珠层的外边界的第三组边界点，在第一组边界点中，每间隔预定个数j取一个边界点，从而选取到k个点，利用k个点拟合一个与所述珠核图像对应的圆，则上述与珠核图像对应的圆的半径为珠核图像的半径，在第三组边界点中，每间隔预定个数m取一个边界点，从而选取到n个点，利用n个点拟合一个与所述待测珍珠图像对应的圆，则上述与待测珍珠图像对应的圆的半径为待测珍珠图像的半径。

8.如权利要求7所述的珍珠珠层厚度的无损检测方法，其特征在于，所述步骤三中，以标准球体为待测物体时，在步骤二识别出的所有的边界点中，每间隔预定个数g取一个边界点，从而选取到h个边界点，利用h个点拟合一个与所述标准球体图像对应的圆，则该与所述标准球体图像对应的圆的半径为标准球体图像的半径。