[发明专利]用于生产薄膜太阳能电池的方法有效
申请号: | 201310472442.1 | 申请日: | 2013-08-30 |
公开(公告)号: | CN104425652B | 公开(公告)日: | 2019-04-05 |
发明(设计)人: | 克里什纳库马·维拉潘;巴斯蒂安·希普欣;贝蒂娜·斯帕特;克里斯蒂安·德罗斯特;彭寿 | 申请(专利权)人: | 中国建材国际工程集团有限公司;CTF太阳能有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 200063 上海市普*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 生产 薄膜 太阳能电池 方法 | ||
1.一种用于生产衬顶构造的太阳能电池的方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:
a.提供透明衬底,
b.施加透明的前接触层,
c.施加CdS层,
d.施加金属卤化物化合物的牺牲层,
e.施加CdTe层并分解所述牺牲层,包括将金属离子中的大部分扩散到所述CdS层中并且将卤化物离子中的大部分扩散到所述CdTe层中,
f.施加后接触层,
其特征在于,步骤e在100℃到小于550℃的范围中的温度下执行。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述前接触层包括高阻缓冲层。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在步骤e中,来自具有高达25%的百分比的总层厚度的第一部分层的所述CdTe层在室温到200℃的温度范围中被生产,并且其余的第二CdTe部分层在350℃到550℃的温度范围中被生产。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,在步骤e之后且在步骤f之前,执行附加的CdCl2活化步骤。
5.根据权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,在步骤e之后,执行在300℃到450℃的范围中的温度下的温度处理步骤。
6.根据权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,所述牺牲层由ZnCl2或ZnCl2衍生物形成。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述牺牲层还包括适于增大所述CdS层的带隙的其它金属氯化物。
8.根据权利要求1-3中的任一项所述的方法,其特征在于,所述牺牲层的金属卤化物化合物在步骤d中被溶解在溶剂中。
9.根据权利要求1-3中的任一项所述的方法,其特征在于,所述牺牲层的金属卤化物化合物由作为金属的Zn和作为卤素的氟或氯组成。
10.根据权利要求1-3中的任一项所述的方法,其特征在于,所述牺牲层的金属卤化物化合物含有在所述金属卤化物化合物的化学计量比之上的另外的氟或氯。
11.一种用于生产衬底构造的太阳能电池的方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:
a.提供衬底,
b.施加后接触层,
c.施加CdTe层,
d.施加金属卤化物化合物的牺牲层,
e.施加CdS层并分解所述牺牲层,包括将金属离子中的大部分扩散到所述CdS层中并且将卤化物离子中的大部分扩散到所述CdTe层中,
f.施加透明的前接触层。
12.根据权利要求11所述的方法,其特征在于,所述前接触层包括高阻缓冲层。
13.根据权利要求11所述的方法,其特征在于,在步骤e中,来自具有高达75%的百分比的总层厚度的第一部分层的所述CdTe层在350℃到550℃的温度范围中被生产,并且其余的第二CdTe部分层在室温到200℃的温度范围内被生产。
14.根据权利要求11所述的方法,其特征在于,在步骤c中,来自具有高达25%的百分比的总层厚度的第一部分层的所述CdS层在100℃到200℃的温度范围中被生产,并且其余的第二CdS部分层在350℃到550℃的温度范围内被生产。
15.根据权利要求11-14中任一项所述的方法,其特征在于,步骤e在100℃到小于550℃的范围中的温度下执行。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的