[发明专利]记忆合金相变温度测量方法及实现其的测量系统无效

专利信息
申请号: 201310472436.6 申请日: 2013-10-11
公开(公告)号: CN103499599A 公开(公告)日: 2014-01-08
发明(设计)人: 王开圣;赵志敏;和儒辉;王致远 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G01N25/12 分类号: G01N25/12
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 杨楠
地址: 210016*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 记忆 合金 相变 温度 测量方法 实现 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种记忆合金相变温度测量方法,其特征在于,首先测量待测记忆合金中的超声波纵波速度随温度变化的声速-温度曲线,所述声速-温度曲线包括升温曲线和降温曲线;然后根据所述声速-温度曲线确定待测记忆合金的相变温度,具体如下:

对于二步相变的记忆合金,升温曲线中从低温到高温的第一个拐点、第二个拐点所对应的温度分别为待测记忆合金的奥氏体相变开始温度、奥氏体相变结束温度;降温曲线中从高温到低温的第一至第四个拐点所对应的温度依次为待测记忆合金的奥氏体到R相转变的开始温度和结束温度,以及马氏体相变开始温度、马氏体相变结束温度;

对于一步相变的记忆合金,升温曲线中从低温到高温的第一个拐点、第二个拐点所对应的温度分别为待测记忆合金的奥氏体相变开始温度、奥氏体相变结束温度;降温曲线中从高温到低温的第一个拐点、第二个拐点所对应的温度分别为待测记忆合金的马氏体相变开始温度、马氏体相变结束温度。

2.如权利要求1所述记忆合金相变温度测量方法,其特征在于,所述超声波的频率范围为0.5MHz~10MHz。

3.如权利要求1所述记忆合金相变温度测量方法,其特征在于,在测量待测记忆合金中的超声波纵波速度随温度变化的声速-温度曲线时,使用脉冲回波法测量超声波纵波速度。

4.如权利要求3所述记忆合金相变温度测量方法,其特征在于,使用纵波PZT压电换能器激发和接收超声波纵波。

5.如权利要求1所述记忆合金相变温度测量方法,其特征在于,在测量待测记忆合金中的超声波纵波速度随温度变化的声速-温度曲线时,使用水作为声耦合剂。

6.实现权利要求1所述记忆合金相变温度测量方法的测量系统,其特征在于,包括:

超声波发射和接收模块,用于在待测记忆合金样品中激发和接收超声纵波;

信号采集和模数转换模块,用于采集超声波发射和接收模块输出的超声波纵波信号,并将其转换为数字信号;

样品温度调节模块,用于调节待测记忆合金样品的温度;

控制和数据处理模块,对信号采集和模数转换模块输出的信号进行计算处理,结合待测记忆合金样品的温度,得到待测记忆合金中的超声波纵波速度随温度变化的声速-温度曲线,所述声速-温度曲线包括升温曲线和降温曲线;并根据所述声速-温度曲线确定待测记忆合金的相变温度。

7.如权利要求6所述测量系统,其特征在于,所述超声波发射和接收模块为纵波PZT压电换能器,用于激发和接收超声纵波。

8.如权利要求6所述测量系统,其特征在于,所述待测记忆合金样品以及超声波发射和接收模块均置于水中。

9.如权利要求6所述测量系统,其特征在于,所述信号采集和模数转换模块为数字存储示波器。

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