[发明专利]一种基于二维晶格的紫外单波长MSM光电探测器有效

专利信息
申请号: 201310461747.2 申请日: 2013-09-30
公开(公告)号: CN103474503A 公开(公告)日: 2013-12-25
发明(设计)人: 康俊勇;高娜;黄凯;陈雪;林伟;李书平;陈航洋;杨旭;李金钗 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: H01L31/101 分类号: H01L31/101;H01L31/0248
代理公司: 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 代理人: 刘勇
地址: 361005 *** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 二维 晶格 紫外 波长 msm 光电 探测器
【权利要求书】:

1.一种基于二维晶格的紫外单波长MSM光电探测器,其特征在于包括衬底、具有量子能级的二维晶格和金属叉指电极;

所述二维晶格在衬底上交替生长,交替生长的周期为至少20个;每个交替生长周期的二维晶格由第一介质膜层与第二介质膜层形成,第一介质膜层的禁带落在第二介质膜层的禁带中,成为半导体Ⅰ类超晶格,第一介质膜层作为势阱,第二介质膜层作为势垒,金属叉指电极与二维晶格形成肖特基接触。

2.如权利要求1所述的一种基于二维晶格的紫外单波长MSM光电探测器,其特征在于所述衬底为同质衬底或异质衬底。

3.如权利要求2所述的一种基于二维晶格的紫外单波长MSM光电探测器,其特征在于所述同质衬底为氮化镓或氮化铝单晶。

4.如权利要求2所述的一种基于二维晶格的紫外单波长MSM光电探测器,其特征在于所述异质衬底为蓝宝石或碳化硅。

5.如权利要求1所述的一种基于二维晶格的紫外单波长MSM光电探测器,其特征在于所述交替生长的周期为20~200个。

6.如权利要求5所述的一种基于二维晶格的紫外单波长MSM光电探测器,其特征在于所述交替生长的周期为80~110个。

7.如权利要求1所述的一种基于二维晶格的紫外单波长MSM光电探测器,其特征在于所述第一介质膜层为氮化镓单晶或铝镓氮混晶。

8.如权利要求1所述的一种基于二维晶格的紫外单波长MSM光电探测器,其特征在于所述第二介质膜层为氮化铝单晶或铝镓氮混晶。

9.如权利要求1所述的一种基于二维晶格的紫外单波长MSM光电探测器,其特征在于所述金属叉指电极为钛/金、镍/金或钛/铂/金组合。

10.如权利要求1所述的一种基于二维晶格的紫外单波长MSM光电探测器,其特征在于所述的异质衬底表面外延生长有AlN基质层,AlN基质层厚度为100nm~1μm,AlN基质层作为缓冲层。

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