[发明专利]一种电子装备等效辐射功率测试的模糊方法及设备

说明书

技术领域

本发明涉及电子设备测试技术领域，尤其涉及一种电子装备等效辐射功率测试的模糊方法及设备。

背景技术

目前，对电子装备的等效辐射功率进行测试，通常是利用标准天线、衰减器、场强仪或频谱仪测得若干个场强值，在假设这若干个场强值服从正态分布的情况下，求取这若干个场强值的数学期望后推算出电子装备的等效辐射功率值。但是实际测试环境本质上是一个动态变化过程，实际测试数据在统计上可能不属于同一总体，特别是数据量比较少时，其分布规律根本无法确定，导致最后推算出的电子装备等效辐射功率值可能会带有较大的误差。

发明内容

为克服现有技术的不足，本发明提供一种电子装备等效辐射功率测试的模糊方法及设备。

为实现如上所述的发明目的，本发明采用如下技术方案：

一种电子装备等效辐射功率测试的设备，包括：标准天线、信号衰减器、场强仪、数据存储及分析装置，所述标准天线通过数据传输线缆与信号衰减器相连，信号衰减器通过数据传输线缆与场强仪相连，场强仪通过数据传输线缆与数据存储及分析装置相连。

一种电子装备等效辐射功率测试的设备，所述数据存储及分析装置由数据存储FLASH存储器、算法程序模块FPGA、复位电路、触摸屏接口电路、触摸屏，所述数据存储FLASH存储器输入端通过串口电路与场强仪相连，数据存储FLASH存储器输出端通过算法程序模块FPGA、触摸屏接口电路与触摸屏相连，其中算法程序模块FPGA的复位端与复位电路相连。

一种电子装备等效辐射功率测试的模糊方法，为模糊信息处理方法，其步骤如下：

1）、采用将经过标准天线、信号衰减器后由场强仪测试的场强值数据电信号传输至数据存储及分析装置，进行场强数据的模糊信息处理，确定被测试的电子装备等效辐射功率；

2）、对于被测试的电子装备等效辐射功率测试，采用等效辐射功率母体概率密度函数的估计方法，即被测试的电子装备等效辐射功率测试数据的模糊处理步骤如下：

（1）根据电子装备等效辐射功率测试数据样本为X={x₁,x₂,…,x_n}，其样本量为n，依据样本量n为在算法程序模块FPGA内查得对应的标准正态信息扩散估计系数α；

（2）通过算法程序模块FPGA计算最大测试值b=max{x₁,x₂,…,x_n}和a=min{x₁,x₂,…,x_n}，并根据公式计算标准正态扩散窗宽h；

（3）确定等效辐射功率母体概率密度函数f(x)的扩散估计

（4）计算被测试的电子装备等效辐射功率测试数据每一个样本点的扩散估计值f~m(xi)(i=1,2,...,n);]]>

（5）计算被测试的电子装备等效辐射功率测试数据每一个样本点出现的密度，即