[发明专利]基于内电阻和电压测量的蓄电池寿命测量方法有效

专利信息
申请号: 201310413631.1 申请日: 2013-09-11
公开(公告)号: CN103454593A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 张健;杨帆;徐昶;支晓晨 申请(专利权)人: 上海明华电力技术工程有限公司;上海电力股份有限公司
主分类号: G01R31/36 分类号: G01R31/36;G01R27/08
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 赵志远
地址: 200437 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 电阻 电压 测量 蓄电池 寿命 测量方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种蓄电池寿命测量方法,尤其是涉及一种基于内电阻和电压测量的蓄电池寿命测量方法。

背景技术

像无停电电源(UPS)等内置备用的蓄电池的装置中,对蓄电池寿命的检测在保养检查方面尤为重要。镍氢蓄电池的寿命的恶化,一般来说,负极的氢吸收合金的腐蚀是其主要原因,但是,使用温度、放电次数、经过时间及放电时的负载功率的大小等主要因素的影响也较多。这样,判断寿命的要素多种多样,正确地判断使用中的蓄电池的寿命非常不容易。

蓄电池内电阻值是反映蓄电池寿命的最有效指标之一。但蓄电池内电阻值在不同的工作过程中和不同的电压水平下呈现出不同的内电阻值,因而难以将其直接有效的与蓄电池寿命产生函数关系。目前可查到的蓄电池间的横向指标比较法可以表征一定的蓄电池状态,但见对蓄电池内电阻值的发展变化过程及寿命评估没有形成有效的方法。

发明内容

本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种基于内电阻和电压测量的蓄电池寿命测量方法,以解决当前蓄电池运行寿命的测量问题,使检测和维护过程智能化、精细化。

本发明的目的可以通过以下技术方案来实现:

一种基于内电阻和电压测量的蓄电池寿命测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)通过电压传感器,获得蓄电池电压信号;

2)当电压信号达到电压上穿或下穿设定电压值时,触发测量蓄电池内电阻值;

3)判断测量的内电阻值与标定值曲线的偏差来判定蓄电池的寿命。

所述的电压上穿设定电压值为充电过程,电压下穿设定电压值为放电过程。

所述的标定值曲线生成过程如下:

11)对于未标定的蓄电池设定内电阻值测量次数,在相同条件下所获取的蓄电池内电阻平均值作为标定值;

12)以各设定电压值下的上穿和下穿标定值分别组成充电过程内电阻标定值曲线和放电过程内电阻标定值曲线。

所述的充电过程内电阻标定值曲线和放电过程内电阻标定值曲线为:以电压作为横坐标,内电阻作为纵坐标,对各相同过程不同电压下的标定值之间进行插值形成连续曲线。

所述的判断测量的内电阻值与标定值曲线的偏差来判定蓄电池的寿命具体为:

当内电阻值与标定值曲线偏差小于标定值10%,判定蓄电池状态为健康;

当内电阻值与标定值曲线偏差大于标定值10%而小于标定值20%,判定蓄电池状态为应当引起注意;

当内电阻值与标定值曲线偏差大于标定值20%,判定蓄电池状态为需及时更换。

所述的内电阻值与标定值曲线偏差仅限于相同过程相同电压条件下比较所得。

与现有技术相比,本发明具有以下优点:

通过判断内电阻值与标定值曲线偏差以及判断后的措施,使蓄电池组的检测和维护过程智能化、精细化,提高系统运行的安全性和经济性,减少因蓄电池性能下降带来的不确定性安全隐患。

附图说明

图1为本发明的流程图;

图2为本发明实现的功能模块图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细说明。

实施例

如图1和图2所示,一种基于内电阻和电压测量的蓄电池寿命测量方法,包括以下步骤:

1)通过电压传感器,获得蓄电池电压信号;

2)当电压信号达到电压上穿或下穿设定电压值时,触发测量蓄电池内电阻值,所述的电压上穿设定电压值为充电过程,电压下穿设定电压值为放电过程;

3)判断测量的内电阻值与标定值曲线的偏差来判定蓄电池的寿命。

所述的标定值曲线生成过程如下:

11)对于未标定的蓄电池设定内电阻值测量次数,在相同条件下所获取的蓄电池内电阻平均值作为标定值;

12)以各设定电压值下的上穿和下穿标定值分别组成充电过程内电阻标定值曲线和放电过程内电阻标定值曲线。

所述的充电过程内电阻标定值曲线和放电过程内电阻标定值曲线为:以电压作为横坐标,内电阻作为纵坐标,对各相同过程不同电压下的标定值之间进行插值形成连续曲线。

所述的判断测量的内电阻值与标定值曲线的偏差来判定蓄电池的寿命具体为:

当内电阻值与标定值曲线偏差小于标定值10%,判定蓄电池状态为健康;当内电阻值与标定值曲线偏差大于标定值10%而小于标定值20%,判定蓄电池状态为应当引起注意;当内电阻值与标定值曲线偏差大于标定值20%,判定蓄电池状态为需及时更换。

所述的内电阻值与标定值曲线偏差仅限于相同过程相同电压条件下比较所得。

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