[发明专利]对基板进行烤焙处理的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310408421.3 申请日: 2013-09-09
公开(公告)号: CN103466927A 公开(公告)日: 2013-12-25
发明(设计)人: 孙世英 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: C03B32/00 分类号: C03B32/00
代理公司: 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 代理人: 吴大建;刘华联
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 进行 处理 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种对基板进行烤焙处理的装置,包括:

加热基板(1);和

用于支撑待加工基板(3)的支撑件(2),所述支撑件(2)位于加热基板(1)和待加工基板(3)之间,且所述支撑件(2)相对于加热基板(1)可移动从而调整与待加工基板(3)的接触位置。

2.根据权利要求1所述的对基板进行烤焙处理的装置,其特征在于,所述支撑件(2)包括多个长条状的基部(2.1),每个所述长条状的基部(2.1)朝向加热基板(1)的一面设有多个间隔排列的、用于支撑待加工基板(3)的顶针(2.2)。

3.根据权利要求2所述的对基板进行烤焙处理的装置,其特征在于,所述长条状的基部(2.1)的宽度不大于待加工基板(3)分割出的两排显示区(3.1)之间的间隔区(3.2)的宽度。

4.根据权利要求3所述的对基板进行烤焙处理的装置,其特征在于,所述长条状的基部(2.1)的长度大于待加工基板(3)的长度。

5.根据权利要求1所述的对基板进行烤焙处理的装置,其特征在于,所述支撑件(2)包括一整块板构成的基部(2.1),所述基部(2.1)朝向加热基板(1)的一面设有多个间隔排列、用于支撑待加工基板(3)的顶针(2.2)。

6.根据权利要求5所述的对基板进行烤焙处理的装置,其特征在于,所述基部(2.1)的长度和宽度均不小于加热基板(1)的长度和宽度。

7.一种对基板进行烤焙处理的方法,其特征在于,采用权利要求1~6中任一项所述的装置,包括步骤:

将支撑件(2)两端放置在用于烤焙待加工基板(3)的烤炉内,并由烤炉两侧的支撑机构支撑;

将待加工基板(3)固定在烤炉内;

移动支撑件(2)使其支撑在待加工基板(3)的非显示区;

通过加热基板(1)对待加工基板(3)进行加热。

8.根据权利要求7所述的对基板进行烤焙处理的方法,其特征在于,所述非显示区是指除显示区(3.1)以外的待加工基板(3)上的区域。

9.根据权利要求8所述的对基板进行烤焙处理的方法,其特征在于,所述非显示区包括间隔区(3.2)和/或边沿区(3.3)。

10.根据权利要求7所述的对基板进行烤焙处理的方法,其特征在于,所述烤炉内的温度为120℃~240℃。

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