[发明专利]一种基于磁场屏蔽性质的超导相微区检测方法在审
| 申请号： | 201310403114.6 | 申请日： | 2013-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN103472417A | 公开（公告）日： | 2013-12-25 |
| 发明（设计）人： | 吴晓京;张昕 | 申请（专利权）人： | 复旦大学 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人： | 陆飞;盛志范 |
| 地址： | 200433 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 磁场 屏蔽 性质 超导 相微区 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1. 一种基于磁场屏蔽性质的超导相微区检测方法，其特征在于具体步骤为：
（1）超导体材料样品置于样品台上保持低温，调节超导体工作电流和电磁铁的均匀磁场，使样品处于超导态；
（2）调节样品台或微区磁场强度探测器探头位置，使二者之间有二维相对移动，在移动过程中，微区磁场强度探测器探头逐点探测样品表面的磁场强度；当样品中分布有正常相和超导相时，探头检测到的磁场强度将产生显著变化：处于超导态的区域将对磁场产生屏蔽，探头检测到的磁场强度将产生显著下降，由此可以判别样品的局部区域完成了相变，信号经转换和放大后由计算机系统记录并处理，最终形成二维显微图像，显示此时正常相与超导相的分布。
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