[发明专利]液晶面板的亮点检测方法

说明书

技术领域

本发明属于显示领域，具体涉及一种液晶面板的亮点检测方法。

背景技术

随着显示技术的不断发展，薄膜晶体管液晶显示器（Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，简称TFT-LCD）具有体积小、功耗低、无辐射等优点，在平板显示领域中占据了主导地位。在液晶面板制成之后，需要对其进行质量检测，亮点检测是其中重要的一项。

现有的液晶面板的亮点检测方法为：对液晶面板的栅线进行循环扫描，同时数据线输出低电平信号，正常情况下，液晶面板会显示黑色画面。如果某个像素的TFT存在故障，比如像素电极与栅极短路，该像素电极就会被输入高电平信号，该像素就会显示为亮点，而被检测出来。

本发明人在实现本发明的过程中发现，现有技术至少存在以下问题：如图1所示，现在很多的亮点不良都是由于像素区域有异物1（或膜层残留），使像素电极2与数据线3短路，而不受TFT4的控制造成的，尤其是在高级超维场转换（Advanced super Dimension Switch，简称ADS）型液晶面板中，以及采用阵列基板行驱动（Gate driver On Array，简称GOA）技术的液晶面板中。利用现有的液晶面板的亮点检测方法，在扫描栅线5的同时，数据线3输出的是低电平信号，那么液晶面板上的像素电极就会被输入低电平信号，其中，与数据线3短路的像素电极2也被输入了低电平信号，所以该与数据线3短路的像素电极2所在的像素不会显示为亮点。因此，现有的液晶面板的亮点检测方法无法检测出由于像素电极与数据线短路造成的亮点，导致亮点检测过程中容易发生漏检。

发明内容

本发明实施例提供了一种液晶面板的亮点检测方法，能够检测出由于数据线与像素电极短路造成的亮点，解决了现有的液晶面板的亮点检测方法容易发生漏检的技术问题。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

本发明提供一种液晶面板的亮点检测方法，包括：

对液晶面板的栅线进行扫描，同时所述液晶面板的数据线输出低电平信号；

关闭所述液晶面板的栅线，同时所述数据线输出高电平信号。

其中，所述对液晶面板的栅线进行扫描，具体为：

对液晶面板的全部或部分栅线进行逐行扫描。

优选的，所述液晶面板为高级超维场转换液晶面板。

优选的，所述液晶面板的栅极驱动电路为阵列基板行驱动模式。

优选的，所述低电平信号对应所述液晶面板的最低灰阶。

优选的，所述高电平信号对应所述液晶面板的最高灰阶。

与现有技术相比，本发明所提供的上述技术方案具有如下优点：本发明提供的液晶面板的亮点检测方法中，先对液晶面板的栅线进行扫描，同时数据线输出低电平信号，对被扫描的各行像素电极输入低电平信号，使这些像素电极所在的像素显示为黑色画面。然后关闭液晶面板的栅线，也就是停止对栅线的扫描，同时数据线输出高电平信号。正常情况下，由于栅线的关闭，数据线上的高电平信号不会输入至像素电极，从而继续保持黑色画面。如果某个像素电极与数据线短路，该像素电极就不受TFT的控制，数据线上的高电平信号会输入至该像素电极，该像素电极与公共电极之间就会形成的较强的电场，使液晶发生偏转，该像素电极所在的像素就会在黑色画面中显示为亮点，从而能够检测出由于数据线与像素电极短路造成的亮点，解决了现有的液晶面板的亮点检测方法容易发生漏检的技术问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。

图1为由于像素电极与数据线短路造成亮点的结构示意图；

图2为本发明的实施例所提供的液晶面板的亮点检测方法的信号时序图；

图3为本发明的实施例中检测出亮点的效果图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述。

实施例1：

本发明实施例所提供的液晶面板的亮点检测方法用于检测ADS型液晶面板，且该液晶面板中采用了GOA技术。该液晶面板的亮点检测方法包括：

步骤S1：对液晶面板的栅线进行扫描，同时液晶面板的数据线输出低电平信号。