[发明专利]一种SiC光学材料加工设备有效
| 申请号: | 201310366741.7 | 申请日: | 2013-08-21 |
| 公开(公告)号: | CN103456610A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
| 发明(设计)人: | 解旭辉;史宝鲁;李圣怡;戴一帆;周林;廖春德 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科学技术大学 |
| 主分类号: | H01L21/263 | 分类号: | H01L21/263;G02B5/08 |
| 代理公司: | 湖南兆弘专利事务所 43008 | 代理人: | 赵洪 |
| 地址: | 410073 湖南省长沙市砚瓦池正街47*** | 国省代码: | 湖南;43 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 sic 光学材料 加工 设备 | ||
1.一种SiC光学材料加工设备,其特征在于:包括电感耦合等离子体发生装置、工作气体供给源(8)和反应气体供给源(9),所述反应气体供给源(9)中装有能通过电感耦合等离子体发生装置激发后与SiC发生化学反应的反应气体,所述电感耦合等离子体发生装置包括等离子体炬管(34)和套设于等离子体炬管(34)外的感应线圈(35),所述工作气体供给源(8)和反应气体供给源(9)与等离子体炬管(34)相连,所述感应线圈(35)的一端与射频电源(4)相连,所述感应线圈(35)的另一端通过可调电阻器R1接地。
2.根据权利要求1所述的SiC光学材料加工设备,其特征在于:所述感应线圈(35)与等离子体炬管(34)外壁之间设有屏蔽金属板(36),所述屏蔽金属板(36)通过可调电容C3接地。
3.根据权利要求1或2所述的SiC光学材料加工设备,其特征在于:所述感应线圈(35)的一端通过阻抗匹配器(5)与射频电源(4)相连。
4.根据权利要求1或2所述的SiC光学材料加工设备,其特征在于:所述反应气体供给源(9)和工作气体供给源(8)与等离子体炬管(34)的连接线路上设有质量流量控制器(10)。
5.根据权利要求1或2所述的SiC光学材料加工设备,其特征在于:所述等离子体炬管(34)安装于一具有至少三轴联动功能的数控运动平台(2)上。
6.根据权利要求5所述的SiC光学材料加工设备,其特征在于:所述数控运动平台(2)位于一封闭加工室(1)中,所述封闭加工室(1)连接一尾气处理装置(11)。
7.根据权利要求1或2所述的SiC光学材料加工设备,其特征在于:所述工作气体供给源(8)与等离子体炬管(34)的连接线路上设有点火装置(6)。
8.根据权利要求1或2所述的SiC光学材料加工设备,其特征在于:所述感应线圈(35)连接一水冷机(7)。
9.根据权利要求1或2所述的SiC光学材料加工设备,其特征在于:所述工作气体供给源(8)与等离子体炬管(34)的中管和外管相连,所述反应气体供给源(9)与等离子体炬管(34)的内管相连;或者,所述工作气体供给源(8)与等离子体炬管(34)的外管相连,所述反应气体供给源(9)与等离子体炬管(34)的中管相连。
10.根据权利要求1或2所述的SiC光学材料加工设备,其特征在于:所述反应气体供给源(9)为SF6气瓶或NF3气瓶或CF4气瓶。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军国防科学技术大学,未经中国人民解放军国防科学技术大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310366741.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





