[发明专利]Mach-Zehder干涉仪结构的硅基光隔离器

权利要求书

1.一种Mach-Zehder干涉仪结构的硅基光隔离器，其特征在于，包括一个硅基Mach-Zehder干涉仪和实施在所述Mach-Zehder干涉仪上臂、下臂的上微扰调制结构、下微扰调制结构，

所述上微扰调制结构将沿上臂正向传播的一特定频率光信号耦合成一目标频率的光信号，所述下微扰调制结构将沿下臂正向传播的光信号耦合成所述目标频率的光信号，所述下微扰调制结构耦合产生的目标频率光信号与所述上微扰调制结构产生的目标频率光信号相位相反；当光信号沿干涉仪反向传播时上臂及下臂均不发生信号耦合。

2.如权利要求1所述的Mach-Zehder干涉仪结构的硅基光隔离器，其特征在于，所述含时微扰调制结构实施于所述上臂波导、下臂波导的方法为：

在所述上臂与下臂的波导中进行掺杂，造成折射率的起伏，然后对掺杂后的波导通电，造成折射率的时间变化。

3.如权利要求1或2所述的Mach-Zehder干涉仪结构的硅基光隔离器，其特征在于，所述上微扰调制结构的调制函数为：ϵ′(z,t)=δ(x)cos(Ωt-(-q)z+π)-d2<x<0δ(x)cos(Ωt-(-q)z)0<x<d2,]]>

所述下微扰调制结构的调制函数为ϵ′(z,t)=δ(x)cos(Ωt-(-q)z+π)0<x<d2δ(x)cos(Ωt-(-q)z)-d2<x<0.]]>其中满足q=k₁-k₂和Ω=ω₂-ω₁，ω₁为所述特定频率光信号的频率，ω₂为所述目标频率信号的频率，k₁、k₂分别为所述特定频率光信号、目标频率信号的波数。