[发明专利]姿势检测和识别

权利要求书

1.一种电子设备，包括：

传感器，其被配置为检测姿势，并响应于所述姿势提供信号；

透镜，其设置在所述传感器上方，以准直入射在所述透镜上的光并将准直光传递到所述传感器；

存储器，用于存储一个或多个模块；以及

处理器，用于执行所述一个或多个模块，以便：

生成对应于所述姿势的一个或多个位置的一个或多个光强度比；

基于所述一个或多个光强度比，来确定姿势的类型。

2.如权利要求1所述的电子设备，还包括照明源，该照明源被配置为发射有限波长光谱中的光，其中所述传感器被配置为检测从所述照明源发射的有限波长光谱中的反射光，用以检测所述姿势。

3.如权利要求1所述的电子设备，其中所述传感器包括光电检测器的阵列。

4.如权利要求3所述的电子设备，其中所述一个或多个光强度比包括：入射在所述光电检测器的阵列中的至少一个光电检测器上的光强度与入射在所述光电检测器的阵列中的其它光电检测器上的光强度相比的比值。

5.如权利要求3所述的电子设备，其中所述处理器还用于执行所述一个或多个模块，以便基于对在所述光电检测器的阵列中的至少一个光电检测器上方的光强度的转变，来追踪所述姿势。

6.如权利要求1所述的电子设备，其中所述处理器还用于执行所述一个或多个模块，以便基于入射在光电检测器上的光强度，来确定在执行所述姿势的对象和所述传感器之间的距离。

7.如权利要求1所述的电子设备，其中所述透镜是所述传感器的表面面积的95％到50％。

8.一种电子设备，包括：

照明源，其被配置为发射有限波长光谱中的光；

光电检测器的阵列，其被配置为检测从所述照明源发射的有限波长光谱中的反射光，以便检测姿势并响应于所述姿势提供信号；

存储器，其用于存储一个或多个模块；以及

处理器，其用于执行所述一个或多个模块，以便：

生成对应于所述姿势的一个或多个位置的一个或多个光强度比；

基于所述一个或多个光强度比，来确定姿势的类型。

9.如权利要求8所述的电子设备，其中所述处理器还用于执行所述一个或多个模块，以便基于对在所述光电检测器的阵列中的至少一个光电检测器上方的光强度的转变，来追踪所述姿势。

10.如权利要求8所述的电子设备，其中所述一个或多个光强度比包括：入射在所述光电检测器的阵列中的至少一个光电检测器上的光强度与入射在所述光电检测器的阵列中的其它光电检测器上的光强度相比的比值。

11.如权利要求10所述的电子设备，其中所述处理器还用于执行所述一个或多个模块，以便基于对在所述光电检测器的阵列中的至少一个光电检测器上方的光强度的转变，来追踪所述姿势。

12.如权利要求8所述的电子设备，其中所述处理器还用于执行所述一个或多个模块，以便基于入射在所述光电检测器的阵列中的至少一个光电检测器上的光强度，来确定在执行所述姿势的对象和所述光电检测器之间的距离。

13.如权利要求8所述的电子设备，其中所述有限波长光谱对应于红外光波长光谱。

14.如权利要求8所述的电子设备，还包括设置在所述光电检测器的阵列上方的透镜，其中所述透镜是所述光电检测器的阵列的表面面积的95％到50％。