[发明专利]一种光纤光栅温度测量装置及测量方法有效

专利信息
申请号: 201310346964.7 申请日: 2013-08-09
公开(公告)号: CN103398801A 公开(公告)日: 2013-11-20
发明(设计)人: 陆兆辉 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第八研究所
主分类号: G01K11/32 分类号: G01K11/32;G01D5/353
代理公司: 北京双收知识产权代理有限公司 11241 代理人: 王菊珍
地址: 232001 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 光纤 光栅 温度 测量 装置 测量方法
【权利要求书】:

1.一种光纤光栅温度测量装置,包括宽带光源、光纤耦合器、可调谐光纤滤波器、光纤、光纤光栅传感器、光探测电路模块和测量控制模块,其中宽带光源与光纤耦合器的一个分路端口光连接,光纤耦合器的另一个分路端口经过可调谐光纤滤波器与光探测电路模块的输入端口光连接,光纤耦合器的输出分成两路,经光纤进入两个串联的传感光纤光栅阵列,可调谐光纤滤波器经D/A转换器和测量控制模块的锯齿波产生模块连接,光探测电路模块通过A/D转换器和测量控制模块的低通数字滤波器连接,其特征在于:

所述两个串联的传感光纤光栅阵列的各光栅栅距均不相同,则其反射光的中心波长不同,通过将各光纤光栅传感器之反射光的中心波长与其地址进行对应编码,可容易地判定光纤光栅传感器的位置。

2.根据权利要求1所述的光纤光栅温度测量装置,其中所述可调谐光纤滤波器为可调谐光纤Fabry-Perrot滤波器。

3.根据权利要求1所述的光纤光栅温度测量装置,其中两个串联的传感光纤光栅阵列中,一个传感光纤光栅阵列包括多条在水平方向排列的光纤光栅,包含该光纤光栅阵列的光纤首尾相连接,形成一个水平光纤光栅串;另一个传感光纤光栅阵列包括多条在竖直方向排列的光纤光栅,包含该光纤光栅阵列的光纤首尾相连接,形成一个竖直光纤光栅串;水平光纤光栅串和竖直光纤光栅串在空间相互重叠,形成栅格化的光纤光栅阵列。

4.根据权利要求3所述的光纤光栅温度测量装置,所述栅格化的光纤光栅阵列中,各栅格的大小相同。

5.根据权利要求3所述的光纤光栅温度测量装置,所述栅格化的光纤光栅阵列中,栅格的大小不同,其中重点测温区域的栅格比非重点测温区域的栅格小。

6.一种根据如权利要求3-5任一项所述的光纤光栅温度测量装置的温度测量方法,其特征在于包括如下步骤:

(1)宽带光源发出的光经耦合器后被分成两路进入传感光纤光栅阵列,当满足布拉格条件的光被反射后经耦合器进入可调谐光纤滤波器,测量控制模块中的锯齿波产生模块产生的数字信号经D/A转换器后,产生锯齿波扫描电压,施加到可调谐光纤滤波器,使其在一定范围内扫描。当它与传感光纤光栅的布拉格波长相匹配时,则让传感光栅反射的光信号通过。

(2)光电探测电路模块探测的光信号经A/D转换和测量控制模块中的低通数字滤波器滤波后,由测量控制模块中的数据计算模块通过分析各个光纤光栅反射光之中心波长的变化的幅度来得到被测点的温度,并根据其中心波长计算被测点的地址,通过地址和位置的对应关系,计算被测点的位置,并将温度和位置通过LCD显示。

7.根据权利要求6所述的温度测量方法,其特征在于,在栅格化的光纤光栅的每个栅格的边上布置一个光纤光栅,将每个栅格边长上的光栅测得的温度值求平均值,作为该栅格区域的温度。

8.根据权利要求7所述的温度测量方法,其特征在于,在栅格化的光纤光栅的每个栅格的四条边中,如果其中一条边中的光纤光栅测得的温度与其他三条边中测量所得的温度相差超过一定值,则判断该处光栅损坏,同时求其他三条边中的光纤光栅测得的温度平均值,作为该栅格区域的温度。

9.根据权利要求6所述的温度测量方法,其特征在于,非重点测温区域的栅格只在3个边中设置光栅,或只在2个边中设置光栅,这样既可以减少光栅的用量,也能够实现参数测量。

10.根据权利要求6所述的温度测量方法,其特征在于,为防止重点区域栅格光栅损坏,可将其他光纤光栅从该重点区域通过,这样一旦某栅格的光栅损坏,则其他光纤光栅可以代替原栅格进行温度监测,确保监测数据无丢失现象。

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