[发明专利]触控面板有效
申请号: | 201310323083.3 | 申请日: | 2013-07-29 |
公开(公告)号: | CN104345932B | 公开(公告)日: | 2017-07-14 |
发明(设计)人: | 庄尧智;陈汉民;廖显宗 | 申请(专利权)人: | 和鑫光电股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 面板 | ||
1.一种触控面板,其特征在于,包含:
一基板;以及
一低反射导电层,设置于该基板上,该低反射导电层依序包含:一氧化物层;一氮化物层;以及一金属层,其中该氧化物层设置于该氮化物层和该基板间,及该氮化物层设置于该金属层以及该氧化物层之间,其中该金属层、该氮化物层以及该氧化物层紧密接触,且三者依序排列,该氧化物层与该氮化物层之间的厚度比例介于1:0.6至1:1.5之间,该氧化物层的厚度介于20纳米至100纳米之间,该氮化物层的厚度介于20纳米至100纳米之间,该金属层的厚度介于30纳米至500纳米之间,该氧化物层与该氮化物层的折射率不同,其中该低反射导电层至少构成多个触控单元以及多个导线,所述多个导线分别连接所述多个触控单元。
2.根据权利要求1所述的触控面板,其特征在于,该氧化物层为金属氧化物层,该氮化物层为金属氮化物层。
3.根据权利要求1所述的触控面板,其特征在于,该金属层的材料为钼,该氮化物层的材料为氮化钼,该氧化物层的材料为氧化钼。
4.根据权利要求3所述的触控面板,其特征在于,该金属层的厚度为100~80纳米,该氮化物层的厚度为30~50纳米,该氧化物层的厚度为30~50纳米。
5.根据权利要求1所述的触控面板,其特征在于,该触控面板为一导电网触控面板,该低反射导电层包含一导电网结构,该导电网结构的导线线宽为2-10微米。
6.根据权利要求1所述的触控面板,其特征在于,该氧化物层直接接触该基板。
7.根据权利要求2所述的触控面板,其特征在于,该金属层的材料是选自钼、铜、银、铬和铝其中之一。
8.根据权利要求1所述的触控面板,其特征在于,该氧化物层的厚度介于20纳米至60纳米之间,该氮化物层的厚度介于20纳米至60纳米之间。
9.根据权利要求1所述的触控面板,其特征在于,所述多个触控单元包含一指状单元,以及呈ㄇ字状并与该指状单元对向排列的多个对向单元。
10.根据权利要求1所述的触控面板,其特征在于,所述触控单元为矩形网格状。
11.根据权利要求10所述的触控面板,其特征在于,所述导线为直线状。
12.根据权利要求10所述的触控面板,其特征在于,所述导线为规则或不规则波浪状。
13.根据权利要求1所述的触控面板,其特征在于,所述触控单元为规则或不规则的波浪网状。
14.根据权利要求13所述的触控面板,其特征在于,所述导线为直线状。
15.根据权利要求13所述的触控面板,其特征在于,所述导线为规则或不规则波浪状。
16.一种触控面板,其特征在于,该触控面板为一单片玻璃解决方案触控面板,该单片玻璃解决方案触控面板包含:
一基板;以及
一低反射导电层,设置于该基板上,该低反射导电层依序包含:一氧化物层;一氮化物层;以及一金属层,其中该氧化物层设置于该氮化物层和该基板间,及该氮化物层设置于该金属层以及该氧化物层之间,其中该金属层、该氮化物层以及该氧化物层紧密接触,且三者依序排列,该氧化物层与该氮化物层之间的厚度比例介于1:0.6至1:1.5之间,该氧化物层的厚度介于20纳米至100纳米之间,该氮化物层的厚度介于20纳米至100纳米之间,该金属层的厚度介于30纳米至500纳米之间,该氧化物层与该氮化物层的折射率不同,其中该低反射导电层至少构成多个导线以及多个架桥部;
多个绝缘层,局部覆盖所述多个架桥部;以及
多个透明导电电极,设置于该基板上,其中部分的所述透明导电电极之间通过所述架桥部连接,每一所述透明导电电极分别连接至所述多个导线。
17.根据权利要求16所述的触控面板,其特征在于,该氧化物层直接接触该基板。
18.根据权利要求16所述的触控面板,其特征在于,还包含一遮光层,设置于该基板上并围绕所述多个透明导电电极,其中所述多个导线位于该遮光层与该基板之间。
19.根据权利要求16所述的触控面板,其特征在于,该金属层的材料为钼,该氮化物层的材料为氮化钼,该氧化物层的材料为氧化钼。
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