[发明专利]一种数模混合芯片的信号管理方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及电子技术领域，特别是涉及一种数模混合芯片的信号管理方法和装置。

背景技术

数模混合芯片由模拟电路和数字电路共同构成，数字电路的输出信号可以循环输入回数字电路，还可以输入到模拟电路；模拟电路与数字电路进行数据通信，如图1所示。为了提高数模混合芯片的质量和可靠性，在设计过程中对数字电路增加了可测试性设计（Design for Testability，DFT）。DFT是将时序电路中的触发器改为带有扫描端的触发器，再额外增加一些控制逻辑，以达到可测试性的目的。

在对数模混合芯片进行扫描测试时，数模混合芯片工作在扫描测试模式下。

数字电路和模拟电路之间连接着很多信号，在扫描测试模式下，由模拟电路输出并输入到数字电路的信号为不定值（无法确定其为高电平还是低电平），降低数字电路在扫描测试模式下的逻辑可控性，从而大大降低了数模混合芯片在扫描测试模式下的测试覆盖率和故障覆盖率。

发明内容

本发明提供一种数模混合芯片的信号管理方法和装置，以解决数模混合芯片在扫描测试模式下的测试覆盖率和故障覆盖率低的问题。

为了解决上述问题，本发明提供了一种数模混合芯片的信号管理方法，所述数模混合芯片包括数字电路，所述方法包括：

对所述数字电路的输出信号进行组合逻辑处理，并将组合逻辑处理后的信号传入到寄存器中；

将传入到所述寄存器中的信号传输至所述数字电路；

其中，所述寄存器中的信号被测试电路确定为高电平或低电平。

优选的，所述对所述数字电路的输出信号进行组合逻辑处理，包括：

对所述数字电路的输出信号进行与、或、非或者异或操作。

优选的，所述将组合逻辑处理后的信号传入到寄存器中，包括：

通过扫描时钟信号将组合逻辑处理后的信号采样到所述寄存器中。

优选的，所述将传入到所述寄存器中的信号传输至所述数字电路，包括：

通过由扫描模式信号控制的二选一开关，将传入到所述寄存器中的信号传输至与所述数字电路连接的输入管脚；所述数模混合芯片还包括模拟电路；

其中，所述二选一开关的两个输入端分别与所述模拟电路传输至所述数字电路的输入信号和传入到所述寄存器中的信号相连。

优选的，所述通过由扫描模式信号控制的二选一开关，将传入到所述寄存器中的信号传输至与所述数字电路连接的输入管脚，包括：

当所述扫描模式信号为高电平时，将与所述二选一开关相连的传入到所述寄存器中的信号传输至与所述数字电路连接的输入管脚。

优选的，所述方法还包括：

对所述数字电路的输出信号进行固化处理，并将固化处理后的信号传输至所述模拟电路。

优选的，所述对所述数字电路的输出信号进行固化处理，包括：

对所述数字电路的输出信号进行与操作或者或操作。

本发明还提供了一种数模混合芯片的信号管理装置，所述数模混合芯片包括数字电路，所述装置包括：

组合逻辑处理模块，用于对所述数字电路的输出信号进行组合逻辑处理，并将组合逻辑处理后的信号传入到寄存器中；

信号选择传输模块，用于将传入到所述寄存器中的信号传输至所述数字电路；

其中，所述寄存器中的信号被测试电路确定为高电平或低电平。

优选的，所述组合逻辑处理模块对所述数字电路的输出信号进行组合逻辑处理，包括：

所述组合逻辑处理模块对所述数字电路的输出信号进行与、或、非或者异或操作。

优选的，所述组合逻辑处理模块将组合逻辑处理后的信号传入到寄存器中，包括：

所述组合逻辑处理模块通过扫描时钟信号将组合逻辑处理后的信号采样到所述寄存器中。

优选的：所述信号选择传输模块通过由扫描模式信号控制的二选一开关，将传入到所述寄存器中的信号传输至与所述数字电路连接的输入管脚；所述数模混合芯片还包括模拟电路；

其中，所述二选一开关的两个输入端分别与所述模拟电路传输至所述数字电路的输入信号和传入到所述寄存器中的信号相连。

优选的：所述信号选择传输模块当所述扫描模式信号为高电平时，将与所述二选一开关相连的传入到所述寄存器中的信号传输至与所述数字电路连接的输入管脚。

优选的，所述装置还包括：

固化处理模块，用于对所述数字电路的输出信号进行固化处理，并将固化处理后的信号传输至所述模拟电路。