[发明专利]一种在片负载牵引测量系统的现场校准方法

说明书

技术领域

微波/毫米波测量领域，关于通过改变源或负载阻抗获得器件准确的大信号参数性能的技术。

背景技术

对于线性器件而言，通过小信号下S参数可以推算出任何负载下的性能，负载牵引方法并不是必须的。但是微波功率晶体管输出功率大，一般工作在大信号状态下，表现出很强的非线性特性。因此，传统的基于线性理论的小信号设计方法已经无法满足大信号条件下微波功率晶体管的设计要求。各种功率放大器广泛应用于各种电子装备中，而功放的设计实际就是研制功率器件之间的匹配网络，研究什么样的网络能获得高的输出功率、高的效率和所需要的增益，这就要了解器件的输出功率、效益和增益随负载阻抗变化是如何变化的,负载牵引测量系统就能提供这些信息。设计者折中选择最佳匹配阻抗，设计出理想匹配网络，充分发挥器件的能力，获得高的输出功率、效率和所需增益。

负载牵引测量系统非常复杂，特别是在片测量系统，其整体性能指标并没有有效的计量措施，由于引进不同厂商的产品以及人员、条件等因素的制约，各单位提供的负载牵引参数测量结果差别很大，导致有时两套类似系统在同样的阻抗下测试输出功率、增益、效率的曲线也会不一致。为实现测量系统的量值准确可靠，保障负载牵引参数测量的一致性，为提高核心电子器件测试分析和设计开发能力提供有力的计量技术保障，因此，十分有必要开展在片负载牵引测量系统的校准工作。

发明内容

本发明提供了一种在片负载牵引测量系统的现场校准方法，该方法是为了统一负载牵引测量系统参数量值，提供实用的负载牵引参数量值溯源途径所研制的。

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：一种在片负载牵引测量系统的现场校准方法，包括如下步骤：

第一步，研制一系列反射系数不同的失配衰减单片作为传递标准件，所述传递标准件的反射系数的覆盖范围为：0.1-0.8；

第二步，利用矢量网络分析仪和微波探针台组成在片矢量网络分析仪作为定标装置，用定标装置测量各传递标准件的S参数，所述S参数为S₁₁、S₁₂、S₂₁、S₂₂；

第三步，由设定的定标装置的源、负载端反射系数结合上一步测得的S参数，参照公式（1）计算得到各传递标准件的标准转换增益G_T（S），并将其作为相应传递标准件转换增益的定标标准值；