[发明专利]一种实现质谱分析系统中独立仪器联动的系统和方法有效
申请号: | 201310299108.0 | 申请日: | 2013-07-17 |
公开(公告)号: | CN103364483A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 |
发明(设计)人: | 黄超 | 申请(专利权)人: | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
主分类号: | G01N27/64 | 分类号: | G01N27/64 |
代理公司: | 北京驰纳智财知识产权代理事务所(普通合伙) 11367 | 代理人: | 谢亮;武寄萍 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 实现 谱分析 系统 独立 仪器 联动 方法 | ||
1.一种实现质谱分析系统中独立仪器联动的系统,其特征在于,所述联动的系统包括独立仪器和数字输入/数字输出接口卡,所述独立仪器包括质量分析仪器和激光剥蚀仪器,其中,
所述质量分析仪器包括进样系统、离子源、分析器、检测器和计算机;所述进样系统将样品送入所述离子源中使其离子化;所述分析器对离子化后的样品离子按质量/电荷比进行分离;所述检测器对所述分析器输出的分离后的样品离子进行检测;所述计算机接收所述检测器输出的样品信号并对其进行存储和处理;
所述激光剥蚀仪器包括激光器、透镜、物镜和剥蚀池;所述激光器发出的激光经过所述透镜整形后,被所述物镜聚焦至所述剥蚀池中的样品表面,样品表面被剥蚀出来的样品颗粒被载气传输至所述质量分析仪器的所述进样系统中;
所述数字输入/数字输出接口卡,通过USB接口分别与所述质量分析仪器和所述激光剥蚀仪器相连接,所述数字输入/数字输出接口卡用于传递触发信号和中断信号;所述触发信号包括质量分析触发信号和激光剥蚀触发信号,所述中断信号包括质量分析中断信号和激光剥蚀中断信号;
所述实现质谱分析系统中独立仪器联动的系统包括联动触发模式和联动中断模式,其中:
所述联动触发模式包括:所述质量分析仪器确认接收到所述激光剥蚀仪器发送的质量分析触发信号,以及所述激光剥蚀仪器确认接收到所述质量分析仪器发送的激光剥蚀触发信号后,所述激光剥蚀仪器开始对样品表面进行剥蚀,所述质量分析仪器开始对传入的样品进行分析;
所述联动中断模式包括:所述激光剥蚀仪器在剥蚀的过程中,若发生故障则发送质量分析中断信号至所述质量分析仪器,使其停止分析过程;所述质量分析仪器在分析的过程中,若发生故障则发送激光剥蚀中断信号至所述激光剥蚀仪器,使其停止剥蚀过程。
2.如权利要求1所述的联动的系统,其特征在于,所述质量分析仪器还包括质量分析模块,所述激光剥蚀仪器还包括激光剥蚀模块,其中,
在所述联动触发模式中,所述质量分析模块和激光剥蚀模块分别用于确认接收到所述质量分析触发信号和激光剥蚀触发信号;
在所述联动中断模式中,所述质量分析模块和激光剥蚀模块分别用于接收质量分析中断信号和激光剥蚀中断信号。
3.如权利要求1或2所述的联动的系统,其特征在于,所述独立仪器在所述联动中断模式中是基于对所述独立仪器上的控制软件的控件的操作来实现的,所述独立仪器基于Windows的MFC,所述控件的操作是通过获取该控件的句柄来实现该控件的动作;所述数字输入/数字输出接口卡具有16路数字输入和16路数字输出,兼容5VTTL电平。
4.如权利要求1或2所述的联动的系统,其特征在于,所述数字输入/数字输出接口卡中传递的触发信号是晶体管-晶体管逻辑电平(TTL)信号;所述分析器包括磁场或电场;所述载气包括He气;所述计算机还用于对所述联动的系统进行控制,其上存储有标准图谱,用于将获取的所述样品信号与所述标准图谱进行检索对比,以给出相应的结构式。
5.如权利要求1或2所述的联动的系统,其特征在于,所述质谱分析系统包括激光剥蚀-多接受电感耦合等离子体质谱系统或者激光剥蚀-四极杆电感耦合等离子体质谱系统;所述质量分析仪器还包括真空系统、电气系统和数据处理系统,其中所述真空系统用于为产生的离子提供真空环境,所述电气系统用于提供电源,所述数据处理系统用于对所述检测器输出的样品信号进行包括去噪和积分的处理后再输入所述计算机。
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