[发明专利]基于LabVIEW的振动机械高振强性能测控装置及其测控方法有效

专利信息
申请号: 201310271601.1 申请日: 2013-07-01
公开(公告)号: CN103294044A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 杨小兰;杨汉嵩;刘极峰;贾晓林;孔炳智;司梦男;黄彪;顾志斌 申请(专利权)人: 南京工程学院
主分类号: G05B19/418 分类号: G05B19/418
代理公司: 南京君陶专利商标代理有限公司 32215 代理人: 奚胜元
地址: 211167 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 基于 labview 振动 机械 高振强 性能 测控 装置 及其 方法
【说明书】:

技术领域

    本发明涉及的是一种基于LabVIEW的振动机械高振强性能测控装置及其测控方法,特别是基于LabVIEW的振动机械高振强性能的智能变频测控装置,属于振动利用工程技术领域。

背景技术

在很多情况下,振动机械需要系统在工作过程中产生的振动,具有高振动强度(简称高振强)的特点,具有宽的功率谱曲线的振动性能,来完成一些特殊的作业内容,如振动筛机的透筛率过低、卡筛、板结;振动磨机粉体的不细化、易团聚、反粉碎;各种料仓、料斗、溜槽的仓壁振动工作中物料粘结、起拱、滞留的非正常运动;振动混料机中某些多种物料混合的混合均匀度不高、混合效率过低, 变质量振动输送机中的瞬态输送物料集聚的分散、排解等问题,一般振强的振动磨对于这些问题的解决是无能为力的。然而振动磨的高振强可以在系统中形成一种足够的强振动应力场,这种高振强及其形成的强振动力场,能打乱物料系统有序的固有振频分布,提高物料的冲击、碰撞或剪切、挤压能力,有利于解决振动磨某些特殊的作业要求,但系统产生具有一定持续时间的高振强或瞬态超高振强运动态,若不能进行及时、有效监测和控制,将可能引发如下问题:

(1)主振弹簧崩裂、激振器轴承过早失效、振动体及振动电机发热甚至烧毁,主要零部件维修频次显著增加;

(2)对基础的振动力明显提高、系统噪声大幅攀升,使操作者和周边环境受到严重影响或无法忍受;

(3)机器在近共振点处时可以研磨出高精度的粉体,但当系统达到或进入高次共振模态区时,振动磨局部机体结构强度薄弱处易扭曲、易损坏,甚至会出现部件瞬间破坏或整机瘫痪、报废,会导致系统能耗、成本迅速增加。

一般的测控装置对解决上述出现的问题是无能为力的。国内外研究将基于LabVIEW软件技术用于振动机械的报道很多,李强等使用LabVIEW虚拟仪器软件开发平台实现对机械振动的测量方法;宋振华等开发了基于LabVIEW的振动实验控制与数据采集系统;D. Ganeshkumar等基于LabVIEW发展了一种智能的、低成本的振动监测与故障诊断系统,但涉及基于LabVIEW的振动机械高振强性能测控装置的研究尚未见报道。

LabVIEW是一种程序开发环境,由美国国家仪器(NI)公司研制开发的,类似于C和BASIC开发环境,但是LabVIEW与其他计算机语言的显著区别是:其他计算机语言都是采用基于文本的语言产生代码,而LabVIEW使用的是图形化编辑语言G编写程序,产生的程序是框图的形式。

发明内容

 本发明目的是针对上述不足之处,提供一种基于LabVIEW的振动机械高振强性能测控装置及其测控方法,进而实现振动机械的安全运行。以高振强振动磨为例,该装置由计算机即上位机、变频器、数据采集卡、振动磨机和传感器共同组成,利用传感器对振动磨机的振动信号进行检测,将检测信号通过放大处理后,经数据采集卡输入到计算机,经LabVIEW程序处理后,再由数据采集卡输出并控制变频器,从而控制振动磨机在可控范围内进行高效、安全地振动,该测控装置具有对振动磨机振动强度实时显示和曲线记录功能,也可对运行曲线进行分析,评估不同频率下振动磨机的研磨效果,经实验验证该测控装置控制稳定、实时监控能力强且界面友好。

由于高振强状态下强非线性的振动特性,使磨机运行时实际振强等主参数与预设值相差甚远,会出现参数超限、超时问题,使系统瞬间失效或瘫痪;构建基于基于LabVIEW的振动磨高振强性能测控装置,进行加速度(用A表示)、振强(用k表示)、振频(用F表示)等主参数的在线监测,通过传感器将信号放大,通过数据采集卡采集信号,经LabVIEW程序的处理后,进行变频控制决策,避免出现振强等主参数的超限或超时给系统带来的不利影响,实现系统的可靠运转。

在进行理论分析和实验的基础上,构建基于LabVIEW的振动磨高振强性能测控系统,实施多波模拟变正弦曲线,进行振动参数的在线监测,达到对振动机械实际高振强值、瞬态超高振强限值及其作用时间的有效监测的目的,使振动机中由高振强形成的强振动力场能得以有效控制,保确系统机体结构及主要零部件的正常功能。

一种基于LabVIEW的振动机械高振强性能测控装置是采取以下技术方案实现:

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