[发明专利]一种反射镜零重力面形测试方法有效
申请号: | 201310263312.7 | 申请日: | 2013-06-27 |
公开(公告)号: | CN103344209A | 公开(公告)日: | 2013-10-09 |
发明(设计)人: | 王昀;廖志波 | 申请(专利权)人: | 北京空间机电研究所 |
主分类号: | G01B21/20 | 分类号: | G01B21/20;G01B11/24 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 陈鹏 |
地址: | 100076 北京市丰*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 反射 重力 测试 方法 | ||
技术领域
本发明属于光学精密测量技术领域,涉及一种反射镜面形的测试方法,可用于空间望远镜反射镜的加工、检测过程中反射镜零重力面形的获取。
背景技术
空间望远镜需要在地面重力环境下加工、检测,而在轨工作环境为微重力环境。如何在重力环境下,准确检测反射镜的无重力面形是空间反射镜测试的难题。
针对反射镜无重力测试的问题,国内学者提出卸载的方法,通过特殊支撑结构对其重力进行卸裁,严格控制支撑力引入的反射镜变形,满足反射镜高精度面形检测的要求,具体可参考2011年06期《应用光学》的《大口径空间反射镜高精度面形检测的支撑技术研究》一文,或者2003年《中国空间科学学会空间探测专业委员会第十六次学术会议论文集》中的《轻型高分辨率相机卸载技术研究》一文。通过其测试方法可以看出,这些方法的不足之处在于测试精度受制于卸载结构,而卸载结构的设计依赖于力学计算,力学计算残余误差大,因此导致零重力面形测试的精度较低。
发明内容
本发明的技术解决问题是:克服现有技术的不足,提供了一种基于支撑变形测试及分离的反射镜零重力面形测试方法,可以显著提高反射镜零重力面形测试的精度。
本发明的技术解决方案是:一种反射镜零重力面形测试方法,步骤如下:
(A)利用反射镜支撑装置(3)将反射镜(2)支撑起来,然后测量此时反射镜(2)在重力方向的面形数据;
(B)保持反射镜支撑装置(3)不动,将反射镜(2)旋转一个角度,改变反射镜(2)边缘与反射镜支撑装置(3)的接触位置,再次测量反射镜(2)在重力方向的面形数据;
(C)重复步骤(B),直至反射镜(2)旋转过一周,由此得到反射镜(2)在重力方向的面形数据序列Pi,i=1,2,3......,n,其中n表示反射镜(2)在旋转一周的过程中所处的不同测量位置的总数;
(D)通过公式计算得到由于反射镜支撑装置(3)的支撑所引起的支撑变形G;
(E)通过公式Mi=Pi-G计算获得反射镜(2)在n个不同测试位置时所对应的零重力面形Mi;
(F)选取一个测量位置对应的方向作为基准方向,依次旋转其余n-1个测试位置下测量得到的零重力面形,由此得到统一在基准方向下的零重力面形序列M′i,求取M′i的均值得到反射镜(2)的最终零重力面形
本发明与现有技术相比的优点在于:
(1)本发明方法利用旋转镜面测试时支撑变形不变的特点(测试面形微分与零重力面形微分相同,支撑变形为常数项),通过微分积分原理推导得出支撑变形的求解公式,利用常规的数据处理方法即可获取准确的零重力变形;
(2)常规方法零重力面形测试高度依赖仿真计算,当仿真计算与实测结果差别较大时难以给出准确的零重力面形;同时计算及测试过程较为复杂,最终测试精度较低。本发明方法测试原理及数据处理过程简单,不包含仿真分析及计算误差,测试精度较高;数据处理方面多次测量可以互相检验避免粗大误差,通过数据平均处理可以进一步减小测试误差;
(3)常规方法零重力面形测试仿真计算存在主观因素,采用不同的计算方法结果存在明显差异,同时支撑卸载机构往往采用调节机构的形式,调整结果对测试结果影响很大;本发明方法采用客观的测试设备、流程及数据处理方法,没有主观以及调整因素,并且多次测量可以相互印证,符合空间应用对可靠性的要求;
(4)常规方法支撑变形作为误差存在,与零重力面形混叠导致精度较低;本发明方法通过客观的测试得到支撑变形并从测试结果中剔除,从而能够实现高精度测量;
(5)常规方法对支撑结构设计及加工精度要求很高,研制成本很高;本发明方法对支撑变形要求较低,支撑卸载机构设计简单,研制成本低。
附图说明
图1为本发明方法的流程框图;
图2为本发明方法的测试原理图。
具体实施方式
本发明方法的流程如图1所示,测试原理如图2所示。本发明保持反射镜支撑状态一致,进行不同重力方向的面形测试,获得重力支撑变形与零重力面形叠加的面形规律变化,通过数据处理分解得到支撑变形,进而得出反射镜零重力面形。具体的方法流程如下:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京空间机电研究所,未经北京空间机电研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310263312.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。