[发明专利]触摸按键主板的测试装置及其方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种触摸按键主板的测试装置及其方法，尤其涉及一种提高测试效率的触摸按键主板的测试装置及其方法。

背景技术

随着触控技术的迅速发展，具有触摸按键的电子产品已经进入了人们的日常生活中，同时给人们的生活带来了很大的便利。在生产具有触摸按键的电子产品时，需要对触摸按键主板进行测试，以保证产品的合格性。现有技术中，在使用测试装置对触摸按键主板的检测过程中，需要重复进行测试装置的开机和关机操作，以进行触摸按键主板的上电时序设定和触摸芯片的初始化操作。这样的测试方法不但会因为频繁的开关机操作大大降低测试装置的使用寿命，而且测试效率不高，不利于降低成本。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种能够有效提高测试效率的触摸按键主板的测试装置及其方法。

本发明提供了一种触摸按键主板的测试装置，所述测试装置用于与一触摸按键主板连接以测试该触摸按键主板，该触摸按键主板具有一触摸芯片以及多个触摸按键，每个触摸按键均具有多个引脚，该测试装置用于测试该触摸按键主板上每个触摸按键的状态，该测试装置包括：

一侦测模块，用于侦测该测试装置是否连接了一触摸按键主板；

一控制模块，用于在所述侦测模块确定该测试装置连接了一触摸按键主板后，设定该触摸按键主板上每个触摸按键的引脚的上电时序并初始化触摸芯片；

一触摸操作模块，用于按顺序依次触摸所述触摸按键主板上的每个触摸按键，以及

一测试模块，用于测试所述触摸按键主板上被触摸的触摸按键的状态。

本发明还提供了一种触摸按键主板的测试方法，该方法包括步骤：

a)，侦测是否有触摸按键主板连接，若是，进入步骤b)；否则继续进行步骤a)；

b)，设定所述触摸按键主板上每个触摸按键的引脚的上电时序并初始化触摸芯片；

c)，按顺序依次触摸所述触摸按键主板上的每个触摸按键；

d)，测试所述触摸按键主板上被触摸的触摸按键的状态。

本发明之一种触摸按键主板的测试装置及其方法，使用测试装置设定触摸按键主板上多个引脚的上电时序，通过热插拔的方式解决了现有技术中每一次测试都要进行测试装置的开关机操作，不但大大延长了测试装置的使用寿命，而且提高了测试效率，具有很大的应用价值。

附图说明

图1为本发明的一实施方式的模块示意图。

图2为图1中装置的方法流程图。

主要元件符号说明