[发明专利]触摸按键主板的测试装置及其方法

权利要求书

1.一种触摸按键主板的测试装置，所述测试装置用于与一触摸按键主板连接以测试该触摸按键主板，该触摸按键主板具有一触摸芯片以及多个触摸按键，每个触摸按键均具有多个引脚，该测试装置用于测试该触摸按键主板上每个触摸按键的状态，其特征在于，该测试装置包括：

一侦测模块，用于侦测该测试装置是否连接了一触摸按键主板；

一控制模块，用于在所述侦测模块确定该测试装置连接了一触摸按键主板后，设定该触摸按键主板上每个触摸按键的引脚的上电时序并初始化触摸芯片；

一触摸操作模块，用于按顺序依次触摸所述触摸按键主板上的每个触摸按键，以及

一测试模块，用于测试所述触摸按键主板上被触摸的触摸按键的状态。

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：

一判断模块，用于判断所述测试模块是否已经将触摸按键主板上的每个触摸按键均测试完毕，以及

一数据清除模块，用于在所述判断模块确定触摸按键主板上的每个按键均测试完毕后清除所述测试模块的测试结果数据。

3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：

一显示模块，用于显示所述测试模块的测试结果。

4.一种触摸按键主板的测试装置，该测试装置与一触摸按键主板连接，该触摸按键主板具有一触摸芯片以及多个触摸按键，每个触摸按键均具有多个引脚，该测试装置用于测试该触摸按键主板上每个触摸按键的状态，其特征在于，该测试装置包括：

一侦测模块，用于侦测是否有触摸按键主板连接；

一控制模块，用于在所述侦测模块确定有触摸按键主板连接后设定该触摸按键主板上每个触摸按键的引脚的上电时序并初始化触摸芯片，以及

一测试模块，用于测试所述触摸按键主板上被一触摸操作治具按顺序触摸的触摸按键的状态。

5.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：

一判断模块，用于判断所述测试模块是否已经将触摸按键主板上的每个触摸按键均测试完毕，以及

一数据清除模块，用于在所述判断模块确定触摸按键主板上的每个按键均测试完毕后清除所述测试模块的测试结果数据。

6.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：

一显示模块，用于显示所述测试模块的测试结果。

7.一种触摸按键主板的测试方法，其特征在于，该方法包括步骤：

a)，侦测是否有触摸按键主板连接，若是，进入步骤b)；否则继续进行步骤a)；

b)，设定所述触摸按键主板上每个触摸按键的引脚的上电时序并初始化触摸芯片；

c)，按顺序依次触摸所述触摸按键主板上的每个触摸按键；

d)，测试所述触摸按键主板上被触摸的触摸按键的状态。

8.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，该包括步骤：

e)，判断所述测试模块是否将触摸按键主板的触摸按键均测试完毕；

f)，清除所述测试模块的测试结果数据。

9.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，在测试所述触摸按键主板上触摸按键的状态后还包括步骤：

g)，显示所述测试模块的测试结果。