[发明专利]静电保护结构在审
| 申请号: | 201310261387.1 | 申请日: | 2013-06-27 |
| 公开(公告)号: | CN104253425A | 公开(公告)日: | 2014-12-31 |
| 发明(设计)人: | 苏庆;邓樟鹏;苗彬彬;张强 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号: | H02H9/04 | 分类号: | H02H9/04 |
| 代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁纪铁 |
| 地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 静电 保护 结构 | ||
技术领域
本发明涉及集成电路制造领域,特别是涉及一种静电保护结构。
背景技术
静电放电(ESD)对于电子产品的伤害一直是不易解决的问题,对于高压工艺来说,静电保护器件不仅需要满足耐压要大于电源电压的要求,其静电触发电压还需要小于被保护器件的损坏电压才可以。传统的静电保护电路结构如图1所示,使用基极接地的NPN三极管保护电路,在静电保护时,通过集电极与基极的结击穿来达到开启。此结构虽然简单,但是开启电压通常偏高,不易调整,易导致保护器件的泄流能力不稳定。
发明内容
本发明要解决的技术问题是利用已有CMOS器件提供一种降低静电保护开启电压,提升器件泄放电流能力的静电保护结构。
为解决上述技术问题本发明的静电保护结构,包括:静电进入端E连接第一电容C1的一端、第一NPN三极管T1和第二NPN三极管T2的集电极;
第一NPN三极管T1其发射极连接第一电容C1的另一端、第一二极管D1的正极和第一电阻R1的一端,其基极连接第一二极管D1的负极、第二二极管D2的正极、第二电阻R2的一端、第一电阻R1的另一端和第二NPN三极管T2的发射极;
第二二极管D2的负极、第二电阻R2的另一端和第二NPN三极管T2的基极接地G。
本发明的工作原理:
当正常工作时,由于第一NPN三极管和第二NPN三极管的基极均通过电阻接地,因此本发明的保护电路结构处于关断状态;
当有静电来临时,由于通过第一电容和第一电阻的RC耦合效应,在第一NPN三极管的基极上耦合电压,当达到Vbe大于0.7V时,第一NPN三极管开启进入电流放大区,有电流流过第二电阻;导致第二NPN三极管的基极电压抬高,当其第二NPN三极管的基极电压达到0.7V时,第二NPN三极管也开启进行电流放大区。第一二极管在于限制第一电容和第一电阻耦合的电压;第二二极管在于限制第一NPN三极管开启后的电流。
本发明的静电保护结构利用已有CMOS器件能降低静电保护开启电压,确保在电路正常工作下处于关断状态,当有静电来临时能瞬间开启并泄放电流,能提升器件泄放电流能力。
附图说明
下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细的说明:
图1是一种现有的静电保护结构示意图。
图2本发明一实施例的结构示意图。
附图标记说明
E是静电进入端
C1是第一电容
T1是第一NPN三极管
T2是第二NPN三极管
D1是第一二极管
D2是第二二极管
R是电阻
R1是第一电阻
R2是第二电阻
G是地
具体实施方式
如图2所示,本发明静电保护结构一实施例,包括:静电进入端E连接第一电容C1的一端、第一NPN三极管T1和第二NPN三极管T2的集电极;
第一NPN三极管T1其发射极连接第一电容C1的另一端、第一二极管D1的正极和第一电阻R1的一端,其基极连接第一二极管D1的负极、第二二极管D2的正极、第二电阻R2的一端、第一电阻R1的另一端和第二NPN三极管T2的发射极;
第二二极管D2的负极、第二电阻R2的另一端和第二NPN三极管T2的基极接地G。
静电进入端E连接第一电容C1的一端、第一NPN三极管T1和第二NPN三极管T2的集电极;
第一NPN三极管T1其发射极连接第一电容C1的另一端、第一二极管D1的正极和第一电阻R1的一端,其基极连接第一二极管D1的负极、第二二极管D2的正极、第二电阻R2的一端、第一电阻R1的另一端和第二NPN三极管T2的发射极;
第二二极管D2的负极、第二电阻R2的另一端和第二NPN三极管T2的基极接地G。
正常工作时,由于第一NPN三极管T1和第二NPN三极管T2的基极均通过电阻接地,因此本发明的保护电路结构处于关断状态;
当有静电来临时,由于通过第一电容C1和第一电阻R1的RC耦合效应,在第一NPN三极管T1的基极上耦合电压,当达到Vbe大于0.7V时,第一NPN三极管T1开启进入电流放大区,有电流流过第二电阻R2;导致第二NPN三极管T2的基极电压抬高,当其第二NPN三极管T2的基极电压达到0.7V时,第二NPN三极管T2也开启进行电流放大区。第一二极管D1在于限制第一电容C1和第一电阻R1耦合的电压;第二二极管D2在于限制第一NPN三极管T1开启后的电流。
以上通过具体实施方式和实施例对本发明进行了详细的说明,但这些并非构成对本发明的限制。在不脱离本发明原理的情况下,本领域的技术人员还可做出许多变形和改进,这些也应视为本发明的保护范围。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司,未经上海华虹宏力半导体制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310261387.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:紫外照射固化装置
- 下一篇:照明通信发光二极管器件





