[发明专利]一种薄壁叶片误差分析方法无效
申请号: | 201310240210.3 | 申请日: | 2013-06-17 |
公开(公告)号: | CN103292760A | 公开(公告)日: | 2013-09-11 |
发明(设计)人: | 任军学;李珊珊;李祥宇;林谦;曾婧雯 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00;G01B21/20 |
代理公司: | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人: | 陈星 |
地址: | 710072 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 薄壁 叶片 误差 分析 方法 | ||
1.一种薄壁叶片误差分析方法,其特征在于包括以下步骤:
步骤1.采用三坐标测量机对加工后的叶片进行测量,并采用Z轴等高法获得三组截面数据点;
步骤2.对叶片设计模型获取与步骤1等高的对应的三组叶片截面数据点;
步骤3.将测量数据进行分析去噪预处理,其具体步骤如下:
(1)对于测量点集的n个有序数据点Pi(i=0,1,2…n),Pi-1、Pi、Pi+1是相邻三点,组成一个三角形;
(2)α表示与的夹角,d=|Pi-1Pi|sinα表示弦高;
(3)对定角度△α和弦高△d限值,将处在两个阀值内的点过滤掉。△α取0~10度,△d按式(1)确定:
其中,Nb表示初始点数,Na表示简化后的点数,
表示相邻点距离的均值;
步骤4.对精简后的测量数据点集与设计数据进行配准,其具体步骤如下:
(1)通过沿Z轴的转动和绕X轴、Y轴的移动把两组数据转换到相同的坐标系下,旋转变换矩阵为:
γ为测量数据点在加工坐标系中绕设计数据点旋转的角度,
Px、Py为测量数据点相对于设计数据点的位移量;
(2)建立目标函数使两组数据对应点之间的距离值平均值达到最小,并且引入权值mi来提高配准精度,目标函数由(2)式确定:
其中,Qi为设计数据点,Pi为测量数据点,li表示在Qi处叶片截面的厚度,lmax表示在同一截面上厚度的最大值;
(3)用粒子群算法求解,使目标函数值达到最小的最优旋转变换矩阵;
步骤5.根据配准后的结果计算加工后叶片的误差,所求取的误差包括轮廓度误差、扭曲度误差、倾斜度误差、弯曲度误差;
步骤6.对得到的误差分析结果。
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