[发明专利]容错存储器

说明书

技术领域

本发明涉及一种容错的存储元件布置、包括这种存储元件布置的存储装置以及相应的方法。

背景技术

存储装置在电子设备中用于存储数据、例如程序或者用户数据。这种存储装置典型地包括多个存储元件、例如几百万个存储元件，也称作存储单元，在其中典型地分别存储一个比特位。

不同的事件、例如宇宙辐射或者其他类型的红外辐射或者致电离辐射的影响可能改变存储在这种存储元件中的数据，这就可能导致故障。这种错误在下面被称作辐射错误。

发明内容

因此，本发明的目的在于，提供容许这类错误的存储元件布置、具有这种存储元件布置的存储装置以及相应的方法。

根据一个实施例，提供了一种用于存储数据值的存储元件布置，包括：

至少三个存储元件，

用于将数据值写入至少三个存储元件中的每个存储元件中的数据输入端，和

具有输入端和输出端的错误校正电路，

其中至少三个存储元件中的每个存储元件的输出端与错误校正电路中的一个输出端连接，

其中，当至少三个存储元件在其输出端上都输出了相同的值时，则错误校正电路设置用于在错误校正电路的输出端上提供该值，并且在至少一个状态下维持先前由错误校正电路所输出的值，至少三个存储元件在该状态中在其输出端上提供了至少两个不同的值，其中，由至少三个所述存储元件所输出的值中的至少一个值等于由所述错误校正装置所维持的值。

根据另一个实施例，提供了一种存储器装置，包括：包括多个上述实施例中的存储元件布置的存储器，以及

用于将数据写入存储器中并且由存储器中读取数据的存储器控制装置。

根据又一个实施例，提供了一种用于存储数据值的方法，包括：将数据值写入至少三个存储元件中，由至少三个存储元件中读取数据值，以及基于所读取的数据值这样输出被校正的数据值，即当所读取的使是数据值一致时，则输出一致的数据值，并且在至少一种其中数据值不一致的状态下，输出先前所读取的数据值。

在有些这种实施例中，至少可对有些情况进行校正，至少三个存储元件的半数以上在这些情况中具有错误。

在其他实施例中，提供了相应的方法或者具有这种存储元件布置的存储装置。

附图说明

下面参照附图进一步阐述本发明的其他实施例。在此示出：

图1为根据一个实施例的存储元件布置的示意图，

图2为根据一个实施例的方法的流程图，

图3为根据一个实施例的存储元件布置的框图，

图4为在本发明的实施例中可使用的校正元件的逻辑图，

图5为根据一个实施例的存储元件布置，

图6a为根据一个实施例的存储元件布置，

图6b为图6a的存储元件布置的变体，

图6c为用于说明图6b的存储元件的工作方式的图解，

图7a为根据一个实施例的存储元件布置，

图7b为图6a的实施例的变体，

图7c为图7a的实施例的另一种变体，

图7d为用于说明图7c的实施例的工作方式的图解，

图8为根据一个实施例的存储元件布置；

图9为根据一个实施例的存储元件布置，和

图10为根据一个实施例的存储装置。

具体实施方式

下面参照附图进一步阐述本发明的其他实施例。要注意，这些实施例仅被理解为是示例，而不是为了用于限制本发明的保护范畴。

如果未明确作出其他说明，不同实施例的特点可以相互结合，以便由此构成新的实施例。在另一方面，对具有多个特点的实施例的说明如下地注明，即为了实施本发明需要所有这些措施，这是因为其他的实施例可能具有较少的特点和/或可替代的特点。

下面对存储元件布置的不同实施例予以说明。其中，存储元件布置通常是一种用于存储数据值的布置。在多个下面所说明的实施例中，使用一个1比特位的数据值作为数据值的示例，即例如一个能够代表逻辑0或者逻辑1的数据值。然而，本发明的实施例原则上也可被应用于在其中在存储元件内存储一个以上的比特位、例如2比特位值的存储元件布置中。

可由多个这种存储元件布置构成存储装置，数据可被存储在其中。存储装置的容量在此取决于存储元件布置的数量。