[发明专利]光电透镜检测装置及检测方法无效
申请号: | 201310220643.2 | 申请日: | 2013-06-05 |
公开(公告)号: | CN104215645A | 公开(公告)日: | 2014-12-17 |
发明(设计)人: | 李秉衡 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/958 | 分类号: | G01N21/958 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光电 透镜 检测 装置 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种检测装置,尤其涉及一种四通道小型可插拔光模块中的光电透镜的检测装置及检测方法。
背景技术
四通道小型可插拔光模块(QSFP,Quad Small Form-factor Pluggable)包括一传输端、一光电透镜及一接收端,传输端为一激光元件,接收端为一光侦测二极管。所述光电透镜主要是用于将传输端所发出的激光光源做45度的转折,耦合到传输端光纤中,反之,接收端光纤经由45度转折将光源耦合到光侦测二极管上。所述光电透镜的相邻表面分别凸设有第一透镜单元及第二透镜单元,所述第一透镜单元及第二透镜单元的光轴相垂直。所述第一透镜单元用于在传输端上将激光光线聚焦到光纤上,所述第二透镜单元用于在接收端上将光纤光线聚焦到光侦测二极管上。
所述光电透镜为塑料射出元件,常常会因为模仁上的脏污、刮伤或射出参数的问题,导致在第一及第二透镜单元端上有脏污、凹陷、刮伤、凸点、黑点、白点、以及灰尘覆盖,从而会使得光电透镜的光传输损耗过大,故需要对所述第一及第二透镜单元表面进行检测,但第一及第二透镜单元尺寸很小,大约直径约250um左右,故,必须通过显微物镜做量测,目前多用人工量测,此需一人一台显微镜,量测成本较高;另外因所述光电透镜具有第一及第二透镜单元,此两个镜片形成于光电透镜的不同表面,故要对光电透镜的两个表面分别进行检测,即对所述第一及第二透镜单元分别进行检测,人工操作时耗时较多。
发明内容
有鉴于此,有必要提供一种四通道小型可插拔光模块中的光电透镜检测装置及检测方法,以降低人力成本,减少检测工作耗时。
一种光电透镜检测装置,所述光电透镜的相邻表面分别凸设有第一透镜单元及第二透镜单元,所述光电透镜检测装置包括第一检测元件及第二检测元件,所述第一检测元件与所述第一透镜单元相对应,所述第二检测元件与所述第二透镜单元相对应,所述第一检测元件及第二检测元件分别用于检测所述光电透镜的第一及第二透镜单元的表面状况。所述第一检测元件包括一个第一图像传感器及搭载于所述第一图像传感器物侧的第一物镜及第一变焦镜头,所述第一图像传感器、第一物镜及第一变焦镜头的光轴重合。所述第二检测元件包括一个第二图像传感器及搭载于所述第二图像传感器物侧的第二物镜及第二变焦镜头,所述第二图像传感器、第二物镜及第二变焦镜头的光轴重合。
一种光电透镜检测方法,包括步骤:提供所述的光电透镜检测装置。提供一待检测的光电透镜,其中所述光电透镜的相邻表面分别凸设有第一透镜单元及第二透镜单元。使所述第一检测元件与所述第一透镜单元相对设置且光轴重合,及使所述第二检测元件与所述第二透镜单元相对设置且光轴重合。调整所述第一变焦镜头及第二变焦镜头的放大倍率至可以得到所述第一透镜单元及第二透镜单元表面的清晰的影像。以及通过所述第一检测元件及第二检测元件分别摄取所述第一透镜单元及第二透镜单元的影像,并分析所述影像从而得到所述第一透镜单元及第二透镜单元的表面状况,从而完成对所述光电透镜的检测。
本实施例的光电透镜检测装置及检测方法中的光电透镜检测装置可以自动对所述光电透镜的第一及第二透镜单元进行检测,从而可以替代人工检测,降低人力成本;并且因电透镜检测装置具有两个检测元件,两个感测元件可以同时对第一及第二透镜单元进行检测,故,还能进一步减少检测耗时。
附图说明
图1是本发明实施例提供的光电透镜检测装置的示意图。
图2是本发明实施例提供的光电透镜检测的流程图。
主要元件符号说明
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