[发明专利]可充电电池保护器有效
申请号: | 201310205329.7 | 申请日: | 2013-05-29 |
公开(公告)号: | CN104218536A | 公开(公告)日: | 2014-12-17 |
发明(设计)人: | 黄乘黄 | 申请(专利权)人: | 株式会社理光 |
主分类号: | H02H7/18 | 分类号: | H02H7/18;H02H3/06 |
代理公司: | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人: | 肖华 |
地址: | 日本东京都大*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 充电电池 保护 | ||
技术领域
本发明涉及一种用于可充电电池的可充电电池保护器,特别地,本发明涉及一种具有充电过电流保护复位功能的可充电电池保护器。
背景技术
可充电电池保护器内具有保护IC。在传统的保护IC中,充电过电流保护之后,通过移除充电器不一定能解除该保护。这是因为电流检测端口V_处于不确定状态。传统的做法是再加上负载,给V_端口一个确定的高于充电过电流保护阈值VDET4的电压后,才可以解除充电过电流保护。这种办法给终端用户的使用和测试环节均产生不便。
对终端用户而言,电池给负载停止供电的欠压保护阈值一般高于电池保护IC的过放电保护阈值VDET2。例如在手机里,如果VDET2为2.3V,手机关机时的电池电压一般仍然高于3V。如果用户此时用一个异常充电器给手机电池充电,异常充电电流导致电池包内部保护IC动作发生了充电过电流保护,则充电停止,由于此时V_引脚被充电器负端电压所控制,所以充电过电流保护持续。当用户将充电器移除时,V_电压变为不确定态,如果该不确定态电压仍然低于VDET4,则充电过电流保护仍然无法释放。此时用户会想到将电池包接上负载,再开机看看。但是由于电池包电压小于正常开机电压,所以手机也无法正常开机,不能保证可以给V_端口一个可以解除充电过电流保护的确定电平状态。在这种情况下,电池包既不能充电也不能放电,将成为死包。
对测试环节而言,当测试完充电过电流保护之后,仍然需要通过给V_端口加电或者给负载端加负载的方法来解除充电过电流保护,使电池包恢复到正常状态,以便于下一道测试工序。不仅增加了工作量和成本,而且在给V_端口加电或加负载的操作过程中,机器静电或人体静电对保护器造成损伤的概率增加了。
发明内容
要解决的技术问题
本发明的目的在于解决现有技术中,在充电过电流保护之后,如果充电器恢复正常或充电器被移除,仍然无法自动解除充电过电流保护,而需要手动地给V_端口加电或者给负载端加负载的问题。因为这不仅增加了工作量和成本,而且在给V_端口加电或加负载的操作过程中,机器静电或人体静电对保护器造成损伤的概率增加了。
技术方案
一种可充电电池保护器,包括:VDD端口,经由电阻R1与可充电电池正极相连;VSS端口,VSS端口与可充电电池负极相连,且VSS端口接地;DOUT端口,与放电回路开关DFET相连;COUT端口,与充电回路开关CFET相连;V_端口,经由电阻R2与外接电路的负端相连,其中,外接电路的负端为可充电电池放电时从外接负载流出的一端,或者为充电器向可充电电池充电时充电器的负电源端;相对参考电压产生单元2,该相对参考电压产生单元2的一端与VDD端口相连,另一端与VSS端口相连,分别输出过充电检测相对参考电压和过放电检测相对参考电压;第一固定参考电压产生单元3,该第一固定参考电压产生单元3的一端与VSS端口相连,该第一固定参考电压产生单元3的另一端分别输出过充电检测阈值阈值电压VDET1和过放电检测阈值电压VDET2;第二固定参考电压产生单元4,该第二固定参考电压产生单元4的一端与VSS端口相连,该第二固定参考电压产生单元4的另一端输出放电过电流检测阈值电压VDET3;第三固定参考电压产生单元5,该第三固定参考电压产生单元5的一端与V_端口相连,该第三固定参考电压产生单元5的另一端输出充电过电流检测阈值电压VDET4;过充电检测器VD1,该过充电检测器VD1的输入端中的一端接收相对参考电压产生单元2输出的过充电检测相对参考电压,过充电检测器VD1的输入端中的另一端接收第一固定参考电压产生单元3的另一端中输出的过充电检测阈值电压VDET1;过放电检测器VD2,该过放电检测器VD2的输入端中的一端接收相对参考电压产生单元2输出的过放电检测相对参考电压,过放电检测器VD2的输入端中的另一端接收第一固定参考电压产生单元3的另一端中输出的过放电检测阈值电压VDET2;放电过电流检测器VD3,该放电过电流检测器VD3的输入端中的一端与V_端口相连,放电过电流检测器VD3的输入端中的另一端与第二固定参考电压产生单元4输出放电过电流检测阈值电压VDET3的另一端相连;充电过电流检测器VD4,该充电过电流检测器VD4的输入端中的一端与VSS端口相连,该充电过电流检测器VD4的输入端中的另一端与第三固定参考电压产生单元5输出充电过电流检测阈值电压VDET4的另一端相连;负载短路检测器6,该负载短路检测器6的输入端与V_端口相连;第一逻辑单元7,包括充电逻辑电路8和电平转换器9,充电逻辑电路8的第一端与过充电检测器VD1的输出端相连,充电逻辑电路8的第二端与充电过电流检测器VD4的输出端相连,充电逻辑电路8的第四端与电平转换器9的第一端相连,电平转换器9的第二端与COUT端口相连;第二逻辑单元10,包括放电逻辑电路11和延时电路12,放电逻辑电路11的第一端与过放电检测器VD2的输出端相连,放电逻辑电路11的第二端与放电过电流检测器VD3的输出端相连,放电逻辑电路11的第三端经由延时电路12与负载短路检测器6相连,放电逻辑电路11的第五端与DOUT端口相连;延时缩短电路13,延时缩短电路13的第二端与V_端口相连;振荡器14和计数器15,振荡器14的第一端、第二端、第三端和第四端分别与过充电检测器VD1的输出端、过放电检测器VD2的输出端、放电过电流检测器VD3的输出端、充电过电流检测器VD4的输出端相连,振荡器14的第六端与延时缩短电路13的第一端相连,振荡器14的第五端与计数器15的第一端相连,计数器15的第二端和第三端分别与充电逻辑电路8的第三端和放电逻辑电路11的第四端相连;放电过电流保护复位单元16,包括FET开关N1和电阻R3,FET开关N1的栅极与放电逻辑电路11的输出端相连,FET开关N1的源极与VSS端口相连,FET开关N1的漏极与电阻R3的一端相连,电阻R3的另一端与V_端口相连;充电过电流保护复位单元17,包括FET开关P1和电阻R4,FET开关P1的栅极与电平转换器9的输出端相连,FET开关P1的源极与VDD端口相连,FET开关P1的漏极与电阻R4的一端相连,电阻R4的另一端与V_端口相连。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社理光,未经株式会社理光许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310205329.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。