[发明专利]光信息记录再现方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及使用全息术在记录介质上记录信息或从记录介质再现信息的方法和装置。

背景技术

当前，依据使用蓝紫色半导体激光的Blu-ray Disc（TM）规格，在民用领域也能够实现具有50GB左右记录容量的光盘的商品化。今后，可望在光盘中也实现100GB～1TB这样与HDD（Hard Disk Drive）容量同样程度的大容量化。

但是，为了实现这样超高密度的光盘，需要使用与通过短波长化和物镜高NA化实现的高密度化技术不同的新方式的高密度化技术。

在进行有关下一代存储技术的研究中，利用全息术记录数字信息的全息记录技术受到了人们的关注。

全息记录技术指的是，使通过空间光调制器二维调制而得的具有页数据信息的信号光在记录介质的内部与参考光叠加，利用此时生成的干涉条纹图样在记录介质内产生折射率调制，由此在记录介质中记录信息的技术。

在信息再现时，将记录时使用的参考光照射到记录介质上，记录在记录介质中的全息图起到衍射光栅那样的作用，产生衍射光。该衍射光含有与所记录的信号光相同的相位信息，作为相同的光被再现。

再现的信号光使用CMOS或CCD等光检测器二维地、高速地检测。像这样的全息记录技术，因为能够使用一个全息图同时地记录/再现二维的信息，而且能够在相同位置重复写入多个页数据，所以能够实现大容量、高速的信息的记录再现。

该全息记录技术中，作为记录再现装置的空间调制部或光检测部具有缺陷时或因使用而产生了缺陷时的应对对策，例如有日本特开2006-236536号公报（专利文献1）。该公报中，记载了这样的内容，即，“能够提供一种记录再现装置，其包括：参考光照射部，对全息记录介质照射用于读取全息记录介质中记录的页数据的参考光；空间调制部，使用与要写入到全息记录介质中的页数据对应的空间信息生成调制后的信号光；信号光照射部，对与照射参考光的区域相同的区域照射上述信号光；光检测部，接收通过对全息记录介质照射上述参考光而生成的再现光；已知数据存储部，预先存储已知页数据；缺陷调查部，在对全息记录介质照射使用与上述已知页数据对应的空间信息调制后的信号光和上述参考光而将已知页数据写入到全息记录介质中之后，对介质照射参考光并根据上述光检测部接收的再现光读取已写入全息存储介质中的已知页数据，调查上述空间调制部或光检测部的缺陷位置；和再现控制部，使用上述缺陷调查部检测出的缺陷位置的信息，复原并再现由上述光检测部接收到的再现光中包括的缺陷位置的原数据，其中，在上述全息记录介质中，预先记录与上述已知数据存储部中存储的已知页数据D3相同的数据D4，上述缺陷调查部进行第一缺陷位置调查和第二缺陷位置调查，其中该第一缺陷位置调查是在将上述已知页数据D3记录在全息记录介质中之后读取该记录的数据D3'调查缺陷位置，该第二缺陷位置调查是读取全息记录介质中预先记录的数据D4调查缺陷位置，并设置有基于两个缺陷位置调查检测出的缺陷位置的信息来判定上述空间调制部和光检测部的哪一方存在缺陷的判定部，由此，使用由缺陷调查部的调查检测出的缺陷位置信息复原并再现缺陷位置的数据，所以即使在空间调制部或光检测部具有缺陷的情况和因使用产生缺陷的情况下，只要是在能够容许的缺陷数的范围内的缺陷，就能够对全息记录介质正确地记录、再现缺陷位置的数据，能够实现记录再现装置的成品率提高和制造成本的抑制，具有不会有损用户数据的记录再现的高可靠性。”

专利文献1：日本特开2006-236536号公报

发明内容

然而，在现有的技术中存在这样的问题，即，在每次电源接通时都进行光学部件的缺陷位置检测的情况下，需要经过相当长的时间记录再现装置才能到达可进行信息的记录或再现的状态。

本发明的目的在于提供一种使用全息术对记录介质进行信息的记录或再现的装置，在短时间内成为可进行信息的记录或再现的状态，并且提高出成率，即使在与记录再现相关的光学部件中发生缺陷的情况下，记录再现也不会存在障碍，可靠性高。

上述问题例如通过将光学部件的缺陷信息记录在记录介质或装置内的存储器中而解决。具体而言可通过以下技术方案而解决。

本发明第一技术方案提供一种光信息记录再现装置，将叠加了信息的信号光与参考光的干涉图样作为全息图记录在光信息记录介质中，并从上述光信息记录介质再现信息，其包括：用于出射光的光源部；将上述光分离为参考光和信号光的光学分离部；在上述信号光中叠加信息的空间光调制部；和对使用上述参考光再现的再现像进行检测的光检测部，其中，在上述光信息记录介质中记录关于上述空间光调制部的缺陷的信息。